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試作評価用、量産用等、任意の試験条件を設定し、信頼性試験が可能な装置です！
『半導体DCバーンイン装置 試験用』は、高周波デバイス（以下FET）の 通電試験装置です。 信頼性評価や量産時のスクリーニング用にRF通電、またはDC通電を行い、 FET実装治具（以下治具）にFETを実装し、高温下にてバーンイン試験を 実施することが可能。 CH数やFETパッケージ、試験条件に合わせたシステム構築をご提案致します。 【特長】 ■多様な装置構成 ■発振に強い ■安定動作が可能 ■FETのゲート・ドレインに規定のバイアス電圧を印加し、通電 ■試作評価用、量産用等、任意の試験条件を設定し、信頼性試験が可能 ※詳しくは製品詳細情報をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
ドライブ基板は1ch毎に電流設定が可能！御希望に合わせたシステム装置の提案・製作が可能です
当社では『定電流方式 LEDエージング装置/バーンイン装置』を取扱って おります。 当社オリジナルのドライブ基板を選択し、御希望に合わせたシステム装置の 提案・製作を行っています。 ドライブ基板は1ch毎に電流設定ができ、1ボード毎に通電時間の設定が 可能。1装置内で同時に複数条件での評価試験等を行う事が可能です。 【特長】 ■ドライブ基板は1ch毎に電流設定ができ、1ボード毎に通電時間の 設定が可能 ■1装置内で同時に複数条件での評価試験等を行う事が可能 ■タッチパネルを使用し、画面上から容易に設定やデータ閲覧が可能 ■御希望に合わせたシステム装置の提案・製作が可能 ■機能追加のカスタマイズ対応も可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
生産効率大幅アップ！治具ごとに自由にバーンイン条件を設定でき、研究開発にも便利
弊社の『 バーンイン装置』は、チャンバー式ではなく、治具ごとに温度や 電源条件を制御でき、使い勝手のいい設備です。 【特長】 ■最大1システム4224pcsのデバイスを同時バーンイン ■治具ごとに温度や電源条件を制御できる ■専用治具はwireボンディング、ローダ、バーンイン、 アンローダー、検査まで対応 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
CH数やFETパッケージ、試験条件に合わせたシステム構築をご提案致します！
『半導体RFバーンイン装置 試験用』は、高周波デバイス（以下FET）の 通電試験装置です。 用途に応じ、ホットプレート（ヒーター）タイプ、恒温槽タイプを選択可能。 お客様のFETを壊すことなく安全に装置を停止する安全回路を搭載しています。 大手半導体メーカ様の各種ラインアップに対応しており、特殊なFETにも 自社開発により柔軟に対応できます。 【特長】 ■多様な装置構成 ■発振に強い ■安定動作が可能 ■高温下にてバーンイン試験を実施することが可能 ■CH数やFETパッケージ、試験条件に合わせたシステム構築を提案 ※詳しくは製品詳細情報をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
生産効率大幅アップ！治具ごとに自由にバーンイン条件を設定でき、研究開発にも便利
『LD（レーザーダイオード）COC バーンイン装置』は、チャンバー式ではなく、治具ごとに温度や 電源条件を制御でき、使い勝手のいい設備です。 EML、DFB等のCOCに対応。最大4224pcsのCOCを同時にバーンインでき、 治具ごとにバーンイン条件を自由に設定可能。 また、バーンイン中に光パワーのモニタリングが可能で、LIV検査もオプションで できます。 【特長】 ■最大1システム4224pcsのLD COCを同時バーンイン ■治具ごとに温度や電源条件を制御できる ■EML、DFB等のCOCに対応可能 ■治具はwireボンディング、ローダ、バーンイン、 アンローダー、COC検査まで対応 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
