【納入実績】計測・制御機器 イメージセンサ検査用 標準光源装置
半導体の性能試験（検査）をする際に使用する光源装置。
CCDやCMOS形のイメージセンサ、エリアセンサ、リニアセンサ、 近赤外線センサなどの半導体の性能試験（検査）をする際に使用する光源装置です。 光源装置は、半導体製造前工程テスト（ウェハの電気的特性試験）や、 後工程テスト（パッケージの電気的機能試験）、R＆D評価試験などで、 テストシステム装置と接続して使用されます。 各種テストシステムと接続が可能で、300mmウェハ対応、低照度対応、 色温度管理に優れています。 【特長】 ■半導体の性能試験（検査）をする際に使用する光源装置 →CCDやCMOS形イメージセンサ・エリアセンサ・リニアセンサ・近赤外線センサなど ■テストシステム装置と接続して使用 →半導体製造前工程テスト（ウェハの電気的特性試験） →後工程テスト（パッケージの電気的機能試験） →R＆D評価試験など ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：応用電機株式会社 神奈川事業部（大和工場）
- 価格：応相談
