【資料】NIR分光計の技術比較
NIR分光計の技術仕様、測定性能に対する影響、他の分光計の技術とその利点・欠点を明らかにします！
NIR（近赤外）分光計を構築するために数多くの異なった技術が利用できます。 当資料では、FT-NIR（フーリエ変換近赤外）干渉計、回折格子モノクロメーター 及び固定回折格子検出器ダイオードアレイの各技術を比較します。 共通して使用される仕様の定義、それらの測定性能への影響、様々な分光計技術 並びに各技術の利点及び欠点について述べておりますので、ご一読ください。 【掲載内容】 ■前書き ■仕様の定義 ■仕様の影響 ■様々な技術の説明 ■様々な技術の利点及び欠点 ■まとめ ■参考文献 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：フォス･ジャパン株式会社
- 価格：応相談
