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ダブルテーブル/シャトル式！FC-CSP/大型個片基板向けの検査装置
当社で取り扱う、半導体パッケージ向け高速・高精度検査装置 『GATS-7760』をご紹介いたします。 チップレットなどの大型・多ピン基板に対応。 個片仕様/シート仕様の2モデルをラインアップしております。 また、LULはご要望仕様に合わせたご提案が可能です。 ご用命の際は、当社までお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■FC-CSP/大型個片基板向け高精度検査装置 ■チップレットなどの大型・多ピン基板対応 ■個片仕様/シート仕様の2モデルラインアップ ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
総合アライメント精度±2.5μm！大型個片/クォーターパネルの検査装置
当社で取り扱う、半導体パッケージ向け高速・高精度検査装置 『GATS-7836』をご紹介いたします。 LULはご要望仕様に合わせたご提案が可能。チップレットなどの 大型・多ピン基板や多様なオートメーション要求に対応しております。 ご用命の際は、当社までお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■大型個片/クォーターパネル高精度検査装置 ■チップレットなどの大型・多ピン基板対応 ■多様なオートメーション要求に対応 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
総合アライメント精度は±5.0μm！上下最大ポイント数64K対応
当社で取り扱う、大型HDI基板向け導通絶縁検査装置『GATS-8350』を ご紹介いたします。 多面付け基板のStep＆Repeat検査と大判基板の一括検査の両方に対応。 また、LULはご要望仕様に合わせたご提案が可能です。 ご用命の際は、当社までお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■大型HDI向け高精度検査装置 ■上下最大ポイント数64K対応 ■多面付け基板のStep＆Repeat検査と大判基板の一括検査の両方に対応 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
高密度基板対応！お客様の用途に合わせた多彩なラインアップをご用意
当社で取り扱う、高密度基板対応2D/3D検査装置『RSH Series』を ご紹介いたします。 バンプ径/ピッチ微細化に対応。お客様の用途に合わせ多彩な ラインアップをご用意しております。 ご用命の際は、当社までお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■超高速・高精度検査 ■2D/3D同時測定システム ■バンプ径/ピッチ微細化対応 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
ワイドバンドギャップな計測技術！最大144UPHの高スループット検査を実現
当社で取り扱う、IGBT/SiC パワーモジュール検査装置『NSAT Series』 をご紹介いたします。 「NATS-1000」は、絶縁/静特性/動特性 自動検査装置。 自動ライン拡張可能で、IEC60747準拠測定。 「NATS-1630/1730」は、動特性手動検査装置で、外部PCやcloud等の 上位データ管理システムとの連携が可能となっております。 【NATS-1000 特長】 ■高温検査～175℃(～200℃) ■高スループット最大144UPH(25秒/ユニット) ■低LS 4.5nH ■自動ライン拡張可能 ■IEC60747準拠測定 ■AOI/そり検査/レーザーマーキング ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
LULはご要望仕様に合わせたご提案が可能！多様なオートメーション要求に対応
当社で取り扱う、半導体パッケージ向け高速・高精度検査装置 『GATS-7862』をご紹介いたします。 総合アライメント精度は±2.5μmで、ハーフ/クオーターパネル向けの 検査装置。チップレットなどの大型・多ピン基板に対応しております。 ご用命の際は、当社までお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■ハーフ/クオーターパネル向け高精度検査装置 ■チップレットなどの大型・多ピン基板対応 ■多様なオートメーション要求に対応 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
両面アライメント機構付！微細化するプリント基板の検査にも対応
『STAR REC V5III』は、V3/V5シリーズとの治具互換や先進テスタ搭載を 実現したプリント基板向け導通・絶縁検査装置です。 検査精度と速度も改善し、微細化するプリント基板の検査にも対応。 また、オプションにて基板に刻印された2Dコードの読取致りを実施、 検査結果と2Dコード情報の紐付けを行い規定のフォーマットにて、 外部PCにデータ出力実施いたします。 ご用命の際は、当社までお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■検査ソリューションの提供 ■2Dトレーサビリティ対応(オプション) ■スマートファクトリー対応(オプション) ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
低LS 4.5nH！ニデックアドバンステクノロジーの検査装置をご紹介
当社で取り扱う、IGBT/SiC パワーモジュール検査装置『NATS Series』を ご紹介いたします。 低LS値を実現し、高精度検査に対応した絶縁/静特性/動特性自動検査装置 「NATS-1000」と、外部PCやcloud等の上位データ管理システムとの連携が 可能な動特性手動検査装置「NATS-1630/1730」をラインアップ。 ご用命の際は、当社までお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ＜NATS-1000＞ ■絶縁検査(ISO) ■静特性検査(DC) ■動特性検査(AC) ■高温検査～175℃(～200℃) ■高スループット最大144UPH(25秒/ユニット) ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
