ウェーハチップ単体用動特性検査装置
チップ単体でのパワーデバイスを測定する動特性検査装置です。 ウェーハ状態での検査装置も多くの実績があります。
各種半導体(IGBT、P-MOS FET、SiC、GaN、Diode等)のウェーハチップ単体を対象とした動特性測定装置(AC特性測定装置)です。チップ単体での出荷検査や受け入れ検査をはじめ、パッケージ封止前の工程での動特性検査が可能になります。
- 企業:コペル電子株式会社
- 価格:応相談
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チップ単体でのパワーデバイスを測定する動特性検査装置です。 ウェーハ状態での検査装置も多くの実績があります。
各種半導体(IGBT、P-MOS FET、SiC、GaN、Diode等)のウェーハチップ単体を対象とした動特性測定装置(AC特性測定装置)です。チップ単体での出荷検査や受け入れ検査をはじめ、パッケージ封止前の工程での動特性検査が可能になります。
モジュールとしてパッケージングされたパワーデバイスを測定する動特性検査装置です。
1台でスイッチングタイム、VCE(SUS)、負荷短絡測定を実現 高温/低温環境下での動特性(AC特性)測定に最適 コペル電子独自のノウハウにより低Ls測定が可能 加熱/冷却用チャンバー付きも可能
モジュールとしてパッケージングされたパワーデバイスを測定する静特性検査装置です。
各種パワーモジュールを対象とした静特性(DC特性)測定器です。 微小電流から大電力まで対応。
チップ単体でのパワーデバイスを測定する静特性検査装置です。 ウェーハ状態での検査装置も多くの実績があります。
チップ単体での静特性(DC特性)試験装置です。 微小電流から大電力まで対応。