バンプ形成検査装置
過検出＆未検出の最小化のために照明構造適用！さまざまな種類をラインアップしました
マルチ照明技術を備えたバンプ検査機のご紹介です。 MULTI照明組合技術を通じた不良検出では、 過検出＆未検出の最小化のために照明構造適用。 PCB製品の全LayerをCAM Master Data上で検査し、 Parameter入力可能で、設定時間短縮可能です。 【CAM MASTER技術】 ■PCB製品の全Layer を CAM Master Data 上で検査 Parameter入力可能、設定時間短縮 ■CAM Masterに入力された検査SPECを通じて手動検査で検出確認がすぐ可能 ■Metal領域とS領域、Via Hole領域などの難解な領域を全て 自動区分され、検査進行ができる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：株式会社ラットコーポレーション 本社：営業部・業務部
- 価格：応相談
