過検出＆未検出の最小化のために照明構造適用！さまざまな種類をラインアップしました
マルチ照明技術を備えたバンプ検査機のご紹介です。 MULTI照明組合技術を通じた不良検出では、 過検出＆未検出の最小化のために照明構造適用。 PCB製品の全LayerをCAM Master Data上で検査し、 Parameter入力可能で、設定時間短縮可能です。 【CAM MASTER技術】 ■PCB製品の全Layer を CAM Master Data 上で検査 Parameter入力可能、設定時間短縮 ■CAM Masterに入力された検査SPECを通じて手動検査で検出確認がすぐ可能 ■Metal領域とS領域、Via Hole領域などの難解な領域を全て 自動区分され、検査進行ができる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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基本情報
【ラインアップ(抜粋)】 ■L/F 12KLinescan AVI Machine ■High Resolution Auto Final Vision Inspection Machine ■LASER MARKING MACHINE ■DCF SEPARATE M/C ■FCCL HOLE LAMINATION & CUTTING M/C ■FCCL HOLE PUNCHING M/C ■Wafer Chip Auto Vision Inspection Machine ■Roll to Roll Auto Editing for COF & TAB film ■Roll to Roll AOI / AVI Machine ■AVI for TO46 / LD ■AVI for MiniLens ■PATTERN AOI, DRILL HOLE AOI ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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企業情報
株式会社ラットコーポレーションは国内外の様々な電子関連事業会社様とのネットワークを駆使し、よりレベルの高い製品の提供を実現し、お客様の多種多様なニーズにお応えすることで、ご満足いただける企業を目指しております。 フォトマスクやプリント基板の資材・設備・製造・設計の事ならラットコーポレーションにお任せください。
