プリント基板メーカー様向けの「基板外観検査装置」をご紹介
ラットコーポレーションが取り扱う、最終基板外観検査装置『SWA AFVI:』は、 Streaming検査手法でScanと同時検査が可能な外観検査装置です。 Data Base Mergeによる最適不良検出と、Multi Scan & FOV検査の自動Overlap機能を実装しています。 【特 長】 ■適用製品：Cu BOL、FCCSP(SOP, NSOP)、General PKG ■製品幅：45～100mm ■製品LENGH：110～300 mm ■THICKNESS：0.08～1.5mm ■Line & Space：15μm*15μm、35μm*35μm ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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基本情報
【設備仕様】 ■検出力（過検出/未検出) ・量産適用：過検出 20%、未検出 0.02%（生産收率 95%） ・不良 種類別 検出照明 適用 ■MASTER SETTING方法 ・CAM MASTER(ODB++) & GOLDEN B/D 使用 TEACHING ・ALL CAM MASTER LAYER 検査、部分検査 可能 ■生産量 ・25SEC/STRIP (L/S 15um/15um, 95mm*240mm基準) ・19SEC/STRIP (L/S 35um/35um, 95mm*240mm基準) ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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用途／実績例
プリント基板の最終外観検査
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企業情報
株式会社ラットコーポレーションは国内外の様々な電子関連事業会社様とのネットワークを駆使し、よりレベルの高い製品の提供を実現し、お客様の多種多様なニーズにお応えすることで、ご満足いただける企業を目指しております。 フォトマスクやプリント基板の資材・設備・製造・設計の事ならラットコーポレーションにお任せください。
