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SiO2薄膜の厚み測定や、ITO薄膜の厚み測定などに！膜厚演算や解析などを行います
『SR10-FF』は「SR-5000」による測定データを読み込み、膜厚演算や 解析などを行うソフトウェアです。 標準仕様では、0.5μm～15μm(0.001μm)、標準＋薄膜解析では 0.01μm～15μm(0.001μm、0.1nm)の範囲を測定可能。 その他製品に関する詳細は、当社までお気軽にお問い合わせください。 【測定範囲】 ■標準仕様：0.5μm～15μm(0.001μm) ■標準＋薄膜解析：0.01μm～15μm(0.001μm、0.1nm) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
ドライ検査チップ評価用！セル内の反応分布を測定することが可能です
『OD4-8』は、不均一反応下での解析方法、混入した気泡やゴミの影響を 除去するアルゴリズムの開発などに必要な基礎データを取得することが 可能な測定システムです。 ソフトウェアは、5波長の画像情報から各波長の吸光度経時変化を 求めることが可能。また、データは全て画像として保存されますので 測定後、測定使用範囲を変更し自由に解析することができます。 【特長】 ■ドライ検査チップ評価用 ■セル内の反応分布を測定することが可能 ■チョッパー方式のため、外光・ノイズをキャンセルできる ■リファレンスに対するサンプルの透過率から光学濃度を計算可能 ■任意間隔で連続測定ができる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
LED光学特性評価のための高精度光測定を実現！お客様の標準光源で校正も可能です
『LL8-UV-VIS-NIR』は、LED開発や評価が効率良く行えるよう、積分球/ 分光器/電源等を自動で制御し、 LEDの光学特性、電気特性、温度特性を 測定するシステムです。 標準校正光源は米国NIST準拠のものを使用し、演算についてはJIS規格に準拠。 お客様の標準光源で校正も可能です。 また、グラフの重ね書きや統計処理機能など充実したソフトウェアにて LEDデバイスの開発、評価をサポートします。 【特長】 ■LED光学特性評価のための高精度光測定を実現 ■LED開発や評価が効率良く行えるよう、積分球/分光器/電源等を自動で制御 ■LEDの光学特性、電気特性、温度特性を測定可能 ■充実したソフトウェアにてLEDデバイスの開発、評価をサポート ■各種オプションまたカスタム仕様に対応 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
量子効率測定、LED光学特性評価等の高精度光測定を実現！各種オプションやカスタム仕様にも対応
『LL8-UV-VIS-NIR』は、励起光源を使用し、外部量子効率、内部量子効率、 励起波長依存性、励起スペクトル、発光スペクトルを測定できる 積分球量子効率測定システムです。 LED開発や評価が効率良く行えるよう、積分球/分光器/電源等を自動で制御。 LEDの光学特性、電気特性、温度特性を測定します。 尚、標準校正光源は米国NIST準拠のものを使用し、演算については JIS規格に準拠しています。 【特長】 ■量子効率測定、LED光学特性評価等の高精度光測定を実現 ■LED開発や評価が効率良く行えるよう、積分球/分光器/電源等を自動で制御 ■LEDの光学特性、電気特性、温度特性を測定 ■お客様の標準光源で校正も可能 ■充実したソフトウェアにてLEDデバイスの開発、評価をサポート ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
温度制御に恒温槽を使用！－60℃～＋150℃と広い範囲の温度特性を測定することが可能
『LL8-HC』は、分光器・電源・恒温槽を自動制御することにより、1台で 光学特性・温度特性・電気特性の測定を行うことが出来る 温度特性測定システムです。 電流、電圧、温度を自動で変更しながらその状態での光学特性や電気特性を リアルタイムで測定可能。また、一定時間間隔で行う時間変化測定や、 任意回数の測定を行う繰り返し測定も可能です。 【特長】 ■電流や電圧はDC駆動とパルス駆動が可能 ■逆バイアス測定を行うことも可能 ■測定結果を保存し、解析処理機能を使い様々な解析を行うことができる ■解析した結果は、印刷、CSV保存、クリップボードコピーなどが行える ■ソフトウェアは全て日本語による分かりやすい表示 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
