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計測×株式会社IHI検査計測 - 企業1社の製品一覧

製品一覧

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高精度・短時間・閉所空間も デジタルカメラによる3次元画像計測

計測対象物を高精度デジタルカメラで多方向から撮影した画像を用いて計測します。

計測対象物を高精度デジタルカメラで多方向から撮影した画像を用いて計測します。測定ポイント(ターゲットを貼り付けた場所)の3次元座標をコンピュータソフトで高精度に算出します。

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デジタル画像相関法(DIC)による 非接触ひずみ分布計測

検面に白と黒のランダムな斑点模様を塗布し、そのパターンをカメラで撮影することで表面の変位やひずみの分布を非接触で測定します。

デジタル画像相関法(DIC:Digital Image Correlation)は、 検面に白と黒のランダムな斑点模様(スペックルパターン)を塗布し、そのパターンをカメラで追跡(撮影)することで表面の変位やひずみの分布を非接触で測定する技術です。

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高精細・非接触計測 ATOSによる高精度3D形状計測

高精細な非接触スキャニングによる表面形状状態が短時間で把握できます。

従来の接触式測定器やアーム式測定器のように各計測点を1点ずつ計測する手法とは大きく異なり、部品の全体形状を高密度の点群データやポリゴンメッシュデータとして取得、測定対象物の表面状態と形状を正確に再現します。

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