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専用光学系＋画像処理・解析方式による光ビームのFFPの観察・計測用システム
『FFP計測装置』は、半導体レーザや光ファイバ、光導波路、光モジュール 等のFFP(ファーフィールドパターン：遠視野像)を計測する装置です。 専用光学系＋画像処理方式により、様々な光デバイスのFFP計測・ 放射角度分布計測・出射 N.A. 計測・解析に応用可能です。 光検出器の選択により、可視域から光通信の1550nm近赤外波長帯まで 様々なシステム構築が可能です。 【特長】 ■FFP計測光学系M-Scope type Fを使用 ■専用光学系＋画像処理解析方式で、測定も迅速で調整も容易 ■ワーキングディスタンス約6mmの長作動距離設計 ■光検出器の選択により、可視域から近赤外域までの測定に対応可能 ■解析装置・光ビーム解析ソフトウエア・検出器ドライバ・補正データが セットになった光ビーム解析モジュールAP013を搭載 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
～10Wクラス高出力レーザの放射角度分布計測に対応したFFP計測装置
『高出力レーザ用FFP計測装置』は、～10Wクラス高出力レーザの 放射角度分布（ファーフィールドパターン）を高精度で迅速に測定する装置です。 専用設計の高出力レーザ用FFP計測光学系M-Scope type HFと2次元画像検出器・ 画像処理方式の組合せで、高出力発光素子や発光モジュールからの出射ビームの 放射角度分布（FFP：ファーフィールドパターン）をリアルタイムで取得・測定可能です。 【特長】 ■出力～10Wクラス高出力レーザ用FFP計測光学系M-Scope type HFを使用 ■光検出器は1インチ高精度CMOS検出器ISA061を使用（専用） ■解析装置・光ビーム解析ソフトウエア・検出器ドライバ・補正データが セットになった光ビーム解析モジュールAP013 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
～10Wクラス高出力レーザ用高機能型光ビームプロファイル計測・NFP計測用システム
『高出力レーザ用高機能NFP計測装置』は、～10Wクラス高出力レーザのNFP計測に 対応した光ビーム形状計測装置です。 光学系は、当社製ハイパワーレーザ用高機能NFP計測光学系M-Scope type HS、 高パワー耐性型対物レンズの装着による近視野像（NFP）の計測が可能。 また、対物レンズを介さない状態で計測することで、狭角角度範囲での 放射角度分布（FFP）計測も可能です。 【特長】 ■ハイパワーレーザ用高機能NFP計測光学系M-Scope type HS ■高機能光ビーム解析システム「光ビーム解析モジュールAP013」 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
