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お客様のご要望に合わせたカスタマイズAFMシステムを設計・構築します！
AFM測定を行う必要があるが、サンプルが大きく特別な取り扱いが必要だったり、従来の技術や方法とは異なる実験が必要ではありませんか？ 私たちはお客様のニーズを真摯に受け止め、お客様と一緒に解決策を考えます。 弊社 日本カンタム・デザインではメーカーであるNanosurf社（スイス）の装置開発チームとの密な連携により、お客様のご要望に合わせたシステムを設計・構築します。 表面測定に関するお困りごとやご要望点がございましたら、お気軽にお問い合わせください！
ナノレベルのダイナミクスの高速3D/4Dイメージング測定を実現！
光の位相差情報をホログラフィの方式により取得することで、数μmの急峻な段差もスキャンなしで瞬時に測定し、3Dイメージや表面粗さ情報表示します。 Z分解能はナノレベルを実現しながら、除振台は不要となっており、高さ方向の走査を必要とせず、広いエリアを高速で測定し、3Dイメージを表示しながらスクリーニングが可能です。 ラボのみならず製造や品質管理の現場でも活用できます。 ◆ホログラフィ方式による高速データ処理を実現 ◆ナノレベルの高さ分解能 ◆液中やガラス窓越しなど様々な測定環境に対応可能 ◆簡単セットアップ、優れた操作性 ◆キャリブレーション不要 ◆スティッチング機能で広範囲を高速測定（別途、自動ステージが必要） ◆高周波数で駆動するMEMSに対応（別途、ストロボスコピックオプションが必要）
