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薄膜から厚膜まで高精度に測定が可能な顕微分光膜厚計『OPTM』
反射率スペクトルは、同種材質の膜であっても、膜厚値の違いにより図のような異なる波形になります。 膜厚が薄い場合、図左側のようなスペクトルを示し、より厚くなると図中央から右側のようなスペクトルへと変化します。 これは光干渉現象によるものです。 大塚電子の膜厚計では高精度で高い波長分解能を持つ分光計測が可能で、正確に絶対反射率スペクトルを求めることができます。 これにより材質の持っている光学定数（n：屈折率、k：消衰係数）の解析も可能になります。
屈折率の波長分散性を考慮した厚膜解析
屈折率の波長分散を考慮したFFT法によって、厚膜においても従来法に比べ、より真値に近い解析結果が得られます。（特許取得済 第4834847号）
非破壊式膜厚計や、金属顕微鏡など！当社の保有する測定機器類をご紹介
株式会社豊田電研で保有している「測定機器類」をご紹介いたします。 「非破壊式膜厚計(アルマイト)」や、「金属顕微鏡」を保有しております。 また、組織観察・表面観察が用途の「マイクロスコープ」や「SEM」、 などもございます。 【保有機器(一部)】 ■非破壊式膜厚計(アルマイト) ■金属顕微鏡 ■マイクロスコープ ■SEM ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
自動統計機能搭載！膜厚（皮膜の厚み）を簡単に測定する超小型膜厚計！便利なポケットサイズなので、作業現場でも持ち運びが簡単！
『DUALSCOPE MPOR/DUALSCOPE MPOR-FP』は、膜厚（皮膜の厚み）を簡単に測定可能な超小型膜厚計です。 作業着のポケットに収ま るほど小さく軽いため、現場で持ち運びながらの測定に適しています。 また、大きな前面ディスプレイと上面ディスプレイにより、どんな測定ポジションからでも膜厚を読みとれます。 さらに、ブルーバックライト付きなので、暗い作業場での測定時にも視認性が優れています。 【特長】 ■自動統計機能 ■上/下限値設定可能 ■読み取りやすい2画面でのデジタル表示 ■作業現場でも持ち運びが便利なポケットサイズ など ※詳しくはPDFダウンロード、またはお問い合わせください。
