IV特性測定サービス
熱抵抗の簡易評価から不良解析まで、半導体のIV特性測定で多目的に活用いただけるサービス
当社では、「IV特性測定サービス」を行っております。 半導体のIV特性は基本的な電気測定として多くの目的で測定されております。 通常の製品評価だけでなく、不良解析や熱抵抗の簡易評価にも活用します。 簡易な予備実験レベルで、多くのサンプル間での相対的な比較が可能です。 熱飽和時のVF特性としての変化量を測定し、熱引けの良し悪しを評価します。 単独のIV測定だけでなく、電気-光の関係における簡易検査や、電気-熱の関係に対する簡易相対評価も可能です。 異常解析の初期確認など、さまざまな用途でご相談いただけます。
- 企業：株式会社佐用精機製作所
- 価格：応相談
