蛍光Ｘ線分析
試料に含まれる元素の非破壊分析。RoHS規制 有害元素のスクリーニング分析にも対応化。
非破壊分析で、液体・固体試料の何れも分析が可能という特長があり、迅速・簡易な元素分析として広く用いられております。精度は落ちるものの定量分析も可能で、未知試料のスクリーニング分析として最適です。
- 企業：株式会社ＤＪＫ
- 価格：応相談
X線分析×株式会社ＤＪＫ - 企業1社の製品一覧
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走査電子顕微鏡-X線分析
試料の表面や断面の観察、X線分析による元素分析やマッピングが行えます。
走査電子顕微鏡（Scanning Electron Microscope;SEM）は物質に入射した電子線がその構成原子と相互作用した結果、その表面から放出された二次電子や反射電子を用いて表面構造を拡大観察する装置で、高分子材料の観察に広く用いられています。また、今回更新したSEMにはエネルギー分散型Ｘ線分析装置（EDS）も組み込まれており、SEM観察画面のあるポイントの元素分析（ホウ素（B）～ウラン（U）や、元素マッピングが行えます。
- 企業：株式会社ＤＪＫ
- 価格：応相談
