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やす評価×株式会社アントンパール・ジャパン - 企業1社の製品一覧

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スクラッチ試験機による液晶保護フィルムの傷のつきやすさの評価

鉛筆硬度試験に代わる傷つき易さの定量化

「ナノスクラッチテスタ(NST3)」 を用いて、スマートフォン用の液晶保護フィルムのスクラッチ試験を実施。 数種類の携帯電話用保護フィルムを用意して同じ条件にてスクラッチ試験。 スクラッチ後のパノラマ写真観察による剥離荷重から傷のつきやすさを定量化。 独自のプレスキャンポストスキャン機能によりフィルムの傷修復も数値化。 鉛筆硬度測定との比較、より詳しい定量化が可能。 ナノスクラッチテスタは、特に標準膜厚1000 nm以下の薄膜やコーティングの実際的な密着性評価に最適です。 有機系及び無機系のコーティングや、軟質及び硬質のコーティングの分析に使用できます。 光学用途から、マイクロエレクトロニクス用途、保護膜、装飾膜など様々な用途向けの、薄膜・多層膜のPVD・CVD・PECVD膜、フォトレジスト、塗装、ラッカーなどの膜の評価に利用できます。 金属合金、半導体、ガラス、反射材や有機材料を含む硬質あるいは軟質の基材も評価できます。 鉛筆硬度試験・サイカス・ウール試験・消しゴム試験では困難な定量化を実現します。

  • その他高分子材料

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