半導体電気特性評価テラヘルツ分光装置・テラヘルツエリプソメーター 複素誘電率(複素屈折率)の周波数依存性を計測可能な唯一の装置です。 電場強度と共に位相情報も同時計測が可能。 企業:西華デジタルイメージ株式会社 価格:応相談 基板検査装置 ブックマークに追加いたしました ブックマーク一覧 ブックマークを削除いたしました ブックマーク一覧 これ以上ブックマークできません 会員登録すると、ブックマークできる件数が増えて、ラベルをつけて整理することもできます 無料会員登録