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カテーテルや半導体検査装置用として世界でトップクラスの技術と実績
現在、小さなバネが需要は急増しています。各種接点バネ・コネクターバネ、そして医療用カテーテル他に使用するコイル状のバネなど用途はさまざまです。その中でもミクロの世界が求められているのが半導体検査装置に用いるバネです。 半導体の電子回路に電流が流れているかを検査する役目を果たします。それは外径Ф100μm以下の最微細バネで、国内でも生産できる企業は限られています。
検査条件に合わせて柔軟に設計・製作。小ロットもOK。組立・配線・検査まで一貫対応
当社では、半導体の検査に使用する『コンタクトプローブ・ ICソケット・プローブカード』を設計・製作しています。 ☆コンタクトプローブ☆ 標準品はもちろん、検査条件に合わせた特殊仕様にも柔軟に対応。 ☆プローブカード・ICソケット☆ 樹脂の加工・組み立てなどに一貫対応できるため、 検査対象にあった検査治具を低コストでご提供可能です。 【対応例】 ◎狭ピッチ対応（MIN P=80μで製作） ◎大電流検査(IGBTデバイスの前工程検査用に製作) ◎非磁性検査（磁性を持たない材質でプローブ製作） ◎その他：高周波(10GHz)、高耐熱(300℃以下)など 【製品例】 ＜コンタクトプローブ＞ ・交換の手間を削減。耐久性に優れた「レアメタルプローブ」 ・内部構造を見直し。安定した抵抗値測定向け「新型バイアスプローブ」 ＜ICソケット＞ ・非磁性対応ソケット ・高耐熱対応ソケット ＜プローブカード＞ ・min80μピッチ対応プローブカード ・大電流負荷試験プローブカード ※詳しくは資料をご覧ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。
検査条件に合わせて柔軟に設計・製作。小ロットもOK。組立・配線・検査まで一貫対応
当社では、半導体の検査に使用する『コンタクトプローブ・ICソケット・プローブカード』を設計・製作しています。 ▼コンタクトプローブ 標準品はもちろん、検査条件に合わせた特殊仕様にも柔軟に対応。 ▼プローブカード・ICソケット 樹脂の加工・組み立てなどに一貫対応できるため、 検査対象にあった検査治具を低コストでご提供可能です。 【対応例】 ◎狭ピッチ対応（MIN P=80μで製作） ◎大電流検査(IGBTデバイスの前工程検査用に製作) ◎非磁性検査（磁性を持たない材質でプローブ製作） ◎その他：高周波(10GHz)、高耐熱(300℃以下)など 【製品例】 ▼コンタクトプローブ ・交換の手間を削減。耐久性に優れた「レアメタルプローブ」 ・内部構造を見直し。安定した抵抗値測定向け「新型バイアスプローブ」 ▼ICソケット ・非磁性対応ソケット、高耐熱対応ソケット ▼プローブカード ・min80μピッチ対応プローブカード ・大電流負荷試験プローブカード ※詳しくは資料をご覧ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。
半導体製造用装置に用いられる各種精密治工具のジャンルごとの製品情報から個々の製品仕様までご紹介します。
当カタログは、理化電子が取り扱うプローブなどを掲載しています。 半導体パッケージの検査を主目的に設計された「短尺プローブ」をはじめ、 低抵抗コンタクトで短い導通長を実現する「ICソケット」などをラインアップ。 用途に合わせてお選びいただけます。 【掲載製品】 ■ショートプローブ ■ICソケット ■WLCSP用プローブガード ■テストフィクスチャー ■RDKボンディングツール ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
半導体検査で使用するプローブカードやICソケットでは新規製作をする場合が多いです。標準品プローブで採用できない問題を解決。
当社では、標準品プローブとして、片側可動のプローブをカタログ品として 取り扱っておりますが、電気検査に使用される装置に合わせようとすると、 仕様を満たせないことがあります。 お客様が検査したい製品や装置条件に合わせて、既存のプローブを ご提案も致しますが、合うプローブがない場合には特注で製作。 既存のプローブをベースに部分的にパーツを新規製作することをはじめ、 すべてのパーツを新規で製作も可能です。 そのため、他社プローブメーカーで製作したブローブが生産中止になって しまったなどで代替品・互換性のあるプローブが必要な場合には ご協力できることがございます。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
最小0.05ｍｍの狭ピッチ測定から、大電流パワー半導体まで。
積層プローブは、プローブが１つのパーツである為、構造的に導電ロスがなく、電流値をダイレクトに測定する事ができ、安定した接触抵抗値が実現できます。 また、最小ピッチ0.05ｍｍに対応可能なため、狭ピッチを利用したケルビン測定も可能で安定した測定が出来ます。 積層プローブの優れた特性は、狭ピッチにプローブを配置するだけでなく大電流を印加するパワー半導体のプローブとしても性能を発揮します。 【特徴】 ■接触抵抗値が安定しているため精密な測定に威力を発揮 ■大電流、高電圧に対応できるのでパワー半導体への印加、測定に貢献 ■狭ピッチに対応できる ※最大0.05ピッチまで可能 ■コンタクトする荷重を調整できる 【事例】 ◎狭ピッチかつ多点でコンタクトする ◎BGAに確実にコンタクトができケルビン測定で安定した測定ができる ◎半田メッキのリードフレームに安定してコンタクトできる ◎狭スペースに対応出来る（LED検査装置向け） ※ＰＤＦからは、事例のご紹介をご覧いただけます。 詳しくはお気軽にお問合せください。
