検査条件に合わせて柔軟に設計・製作。小ロットもOK。組立・配線・検査まで一貫対応
当社では、半導体の検査に使用する『コンタクトプローブ・ ICソケット・プローブカード』を設計・製作しています。 ☆コンタクトプローブ☆ 標準品はもちろん、検査条件に合わせた特殊仕様にも柔軟に対応。 ☆プローブカード・ICソケット☆ 樹脂の加工・組み立てなどに一貫対応できるため、 検査対象にあった検査治具を低コストでご提供可能です。 【対応例】 ◎狭ピッチ対応(MIN P=80μで製作) ◎大電流検査(IGBTデバイスの前工程検査用に製作) ◎非磁性検査(磁性を持たない材質でプローブ製作) ◎その他:高周波(10GHz)、高耐熱(300℃以下)など 【製品例】 <コンタクトプローブ> ・交換の手間を削減。耐久性に優れた「レアメタルプローブ」 ・内部構造を見直し。安定した抵抗値測定向け「新型バイアスプローブ」 <ICソケット> ・非磁性対応ソケット ・高耐熱対応ソケット <プローブカード> ・min80μピッチ対応プローブカード ・大電流負荷試験プローブカード ※詳しくは資料をご覧ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。
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基本情報
長年培ってきた技術を活かし、より効率的な検査環境をご提供できるよう また、より細かいご要望に応えられるよう、開発を続けております。 ※詳しくは資料をご覧ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。
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用途/実績例
【コンタクトプローブ】 電気検査装置ヘッド部 コネクタ 基板ファンクション検査 液晶パネル点灯検査 電池充放電検査 【プローブカード】 半導体前工程検査 【ICソケット】 半導体後工程検査 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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当社 は、その品質保証に不可欠な検査機器を開発/設計してきたメーカーです。 1984年の創業・創立以来、プローブピン、及びその応用製品である 各種検査冶具を専門メーカーとして製造・販売を開始。 その後、プローブカードやICソケットをはじめとする半導体部品検査冶具、 液晶パネル検査冶具等、様々な市場でユーザ様のご要望に応えて参りました。 業界のリーディングカンパニーとして長年“精錬”し、“研鑽”してきた精密加工・組立技術。 時代の変化に追従し、『TOTAL TEST SOLUTION』の精研として、 これからもユーザ様のよきパートナーとして様々な製品、サービスで 検査業務における課題の克服に取り組んで参ります。 また、近年は弊社製品を作る上で積み上げてきた技術やノウハウを EMS事業と言う形でもユーザ様へご提供しております。 独自のスキルはもちろんのこと、協力会社や関係会社とユーザ様とのマッチングにより モノづくりにおける様々なサポートもさせて頂いております。 精研は、常にチャレンジし、新たな価値を生み出し、日本のモノづくりの未来を拓きます。