スキャン方式FFP計測装置
スキャン方式FFP計測装置
FFP1003は、半導体レーザ・LED・光ファイバなどからの出射光ビームの拡がり角度分布を測定するシステムです。検出器としてPDを用いることにより、短波長帯・長波長帯を問わず、高感度・高ダイナミックレンジな計測を実現しています。ニ軸スキャン方式の採用により、Xプロファイル・XYプロファイルだけでなく、三次元プロファイルの計測まで可能としています。高精度に調整されたスキャン・回転光学系を外部PCで制御することにより、簡単に高精度なFFP計測が可能です。 ■特長 ●Xプロファイル、XYプロファイル、三次元プロファイル計測 ●短波長帯、長波長帯のLD・LEDおよびファイバに対応 ●マイクロW以下の微小光量で計測可能 ●強度軸ダイナミックレンジ＞40dB ●スキャン角度範囲：±60°および回転角度範囲：180°
- 企業：プレサイスゲージ株式会社
- 価格：応相談
