スキャン方式FFP計測装置
FFP1003は、半導体レーザ・LED・光ファイバなどからの出射光ビームの拡がり角度分布を測定するシステムです。検出器としてPDを用いることにより、短波長帯・長波長帯を問わず、高感度・高ダイナミックレンジな計測を実現しています。ニ軸スキャン方式の採用により、Xプロファイル・XYプロファイルだけでなく、三次元プロファイルの計測まで可能としています。高精度に調整されたスキャン・回転光学系を外部PCで制御することにより、簡単に高精度なFFP計測が可能です。 ■特長 ●Xプロファイル、XYプロファイル、三次元プロファイル計測 ●短波長帯、長波長帯のLD・LEDおよびファイバに対応 ●マイクロW以下の微小光量で計測可能 ●強度軸ダイナミックレンジ＞40dB ●スキャン角度範囲：±60°および回転角度範囲：180°
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基本情報
FFP1003は、半導体レーザ・LED・光ファイバなどからの出射光ビームの拡がり角度分布を測定するシステムです。検出器としてPDを用いることにより、短波長帯・長波長帯を問わず、高感度・高ダイナミックレンジな計測を実現しています。ニ軸スキャン方式の採用により、Xプロファイル・XYプロファイルだけでなく、三次元プロファイルの計測まで可能としています。高精度に調整されたスキャン・回転光学系を外部PCで制御することにより、簡単に高精度なFFP計測が可能です。 ■特長 ●Xプロファイル、XYプロファイル、三次元プロファイル計測 ●短波長帯、長波長帯のLD・LEDおよびファイバに対応 ●マイクロW以下の微小光量で計測可能 ●強度軸ダイナミックレンジ＞40dB ●スキャン角度範囲：±60°および回転角度範囲：180°
価格情報
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納期
用途／実績例
●VCSELのFFP計測 ●青色LDのFFP計測 ●ファイバのNA計測 ●光散乱物質の散乱分布計測
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企業情報
弊社は各種光計測機器、センサ、光部品自動組立装置の研究開発、製造販売を行っています。 得意とするのは、光・電子応用技術。「こんな機械装置が欲しいのだけど・・・」というお客様の要望に応えるため、全ての製品を研究開発から行っております。
