センサー検査システム【計測システム開発事例】
システム全体をご提供することが可能！たくさんのICを制御可能なテスティング治具を制作
半導体・センサーメーカー様へ、センサー検査システムについてのご提案を 行った事例をご紹介します。 新しく設計開発した半導体ICのテスティング治具を作りたい、テスティング 工数の削減のため、一度にたくさんのICのテスティングを行えるように してほしいとのご要望がありました。 そこで、FPGAを搭載したテスティングシステムをご提案。FPGAを利用して たくさんのICを制御可能なテスティング治具を制作し納品いたしました。 テスティング工数が大幅に削減できたと大変満足いただけました。 【事例概要】 ■ご要望：新しく設計開発した半導体ICのテスティング治具を作りたい ■ご提案：FPGAを搭載したテスティングシステム ■結果 ・FPGAを利用してたくさんのICを制御可能なテスティング治具を制作 ・テスティング工数が大幅に削減できたと大変満足いただけた ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：穂高電子株式会社
- 価格：応相談
