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複数の異なる測定項目条件を設定し、連続しての試験が行えます
『ST-6527B』は、半導体の動特性を設定されたテスト条件に従って 測定をする装置です。 全ての試験項目は、ディジタルオシロスコープにて取り込んだ波形を 解析して、測定及び判定。シングル試験、スイープ試験、ループ試験他、 豊富な解析機能を備えております。 また、L負荷、R負荷、スナバコンデンサ、ダイオード、ゲート抵抗は、 プラグインタイプを使用し、様々なハードウエア設定を可能にしています。 【特長】 ■測定データと波形データの管理が容易 ■パワーデバイスの動特性試験に特化 ■高温(最大230℃)での試験が可能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
半導体の動特性を設定されたテスト条件に従って測定をする装置です
『ST-2400』は、パワーデバイス用ダイナミックテスターとして研究開発や 信頼性試験、破壊耐量試験を安全に効率的に行う装置です。 一回のパルス印加で最大10個までの波形解析条件が設定でき、評価時間の短縮が可能。 試験を行うプログラムは、条件項目に必要なパラメータを入力するだけの簡単操作。 また、試験結果は、測定データ(CSV形式)、波形データは(CSV形式・JPG形式)にて 保存されますので、市販ソフト(Excel等)にて、グラフ化・一覧表化の作成が行えます。 【特長】 ■測定データと波形データの管理が容易 ■パワーデバイスの動特性試験の最高クラス ■パワーデバイスの製品開発時間短縮に好適 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
