バウンダリスキャンテスタ - メーカー・企業と業務用製品 | イプロスものづくり

バウンダリスキャンテスタの製品一覧

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バウンダリスキャンテスト JTAG 導入事例紹介

不良原因の特定が短時間で実施可能に！JTAGテストの導入事例をご紹介

当社にて、信頼性と業界のリーディングメーカーであるCORELIS社(本社：米国・カリフォルニア)のJTAGテストを導入した事例をご紹介します。某大手医療電子機器メーカーは、生産技術部門で2008年よりBGA搭載や狭ピッチコネクタ採用基板の不良解析のため、JTAGテストを導入されました。その結果、高密度なプリント配線基板に対しても、十分な品質確保が可能となりました。【事例】 ■課題・BGA搭載や狭ピッチコネクタ採用基板の不良解析 ■結果・BGA搭載基板、狭ピッチコネクタ導入基板の不良箇所をピンレベルで特定・プルアップ/プルダウン抵抗器の実装不良箇所も特定、さらに製造品質向上・X線検査のテスト自動化で品質を向上 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。