不良原因の特定が短時間で実施可能に！JTAGテストの導入事例をご紹介
当社にて、信頼性と業界のリーディングメーカーであるCORELIS社(本社：米国・カリフォルニア)のJTAGテストを導入した事例をご紹介します。 某大手医療電子機器メーカーは、生産技術部門で2008年よりBGA搭載や狭ピッチコネクタ採用基板の不良解析のため、JTAGテストを導入されました。 その結果、高密度なプリント配線基板に対しても、十分な品質確保が可能となりました。 【事例】 ■課題 ・BGA搭載や狭ピッチコネクタ採用基板の不良解析 ■結果 ・BGA搭載基板、狭ピッチコネクタ導入基板の不良箇所をピンレベルで特定 ・プルアップ/プルダウン抵抗器の実装不良箇所も特定、さらに製造品質向上 ・X線検査のテスト自動化で品質を向上 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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【その他導入事例】 ■ICTとのインラインで同時検査導入 ■14枚のドーターボードの同時検査へ導入 ■デジタルICTからの検査置き換えで容易に海外生産拠点への展開を実現 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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エレクトロニクス業界は、スピード・コストパフォーマンス・コミュニケーション・省力化・独創性と新しい価値創造へ熾烈な展開が広げられています。私たちは、この前線でお客様と共鳴し合いながら、製品完成度の向上にお役に立ちたい信念のもと、各種基板検査装置のご提案、ファンクションテスタの開発、各種冶具（フィクスチャ）の開発・製造を通じ、貢献し続けて行きます。
