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バウンダリスキャンテスト - メーカー・企業と業務用製品 | イプロスものづくり

バウンダリスキャンテストの製品一覧

1~2 件を表示 / 全 2 件

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マルチプローブ × 治具レスJTAGバウンダリスキャンテスト

フライングプローブ×マルチプローブで実現する、治具不要のJTAGテスト体験

NEPCON JAPAN 2026(東京ビッグサイト)で展示した、タカヤのフライングプローブテスタによる治具レスJTAGバウンダリスキャンテストのデモ映像です。 本デモでは、オプションのマルチプローブシステムを活用し、JTAG信号への安定したアクセスとスムーズなテスト実行を実現しています。 展示会ブースで実際に動作していたデモをそのまま収録しており、プロービング動作やバウンダリスキャン実行の流れをご覧いただけます。

  • 基板検査装置
  • バウンダリスキャンテスト

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バウンダリスキャンテスト JTAG (CORELIS)

BGA・QFP搭載基板、狭ピッチコネクター導入基板をピンレベルで検査。

バウンダリスキャンテスト JTAG の特徴は、BGA部分の品質をファンクションで保証すると製品全体の検査時間が増大し、結果、確実にBGAの実装保証が可能となり、不良原因の特定が短時間且つピンレベルで実現可能。

  • 基板間コネクタ
  • 試験機器・装置
  • コネクタ端子台
  • バウンダリスキャンテスト

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