ハイパワーレーザ用NFP計測光学系『M-Scope typeH』
5Wクラスの高出力レーザ等の発光ビームプロファイル計測用のNFP計測光学系
『M-Scope typeH』は、5Wクラスの高出力レーザ等の発光ビームプロファイル 計測用のNFP計測光学系です。 計測対象サンプルから出射された光束をビームサンプラーにて約5%程度を 反射させ、その反射光を対物レンズ・結像レンズにて2次元画像検出器に結像 する方式を採用しています。 これにより、高出力レーザの発光ビームプロファイル・ビーム形状を正確に 計測することができ、また、微動ステージと組合せて、光学系を焦点方向に 移動させることにより、ビーム形状の出射方向の変化を測定することも可能 です。 【特長】 ■高出力レーザのパワーを測定可能な適正レベルまで減衰 ■最大20倍の観察光学倍率 ■同軸落射照明ポートを標準装備 ■同軸落射照明装置（オプション）との組合せで顕微鏡画像観察・実像に よる位置合わせが可能 ■光ビーム解析モジュールAP013との併用により、高出力レーザNFP 計測システムの構築が可能 ※詳しくは、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：シナジーオプトシステムズ株式会社
- 価格：応相談
