5Wクラスの高出力レーザ等の発光ビームプロファイル計測用のNFP計測光学系
『M-Scope typeH』は、5Wクラスの高出力レーザ等の発光ビームプロファイル 計測用のNFP計測光学系です。 計測対象サンプルから出射された光束をビームサンプラーにて約5%程度を 反射させ、その反射光を対物レンズ・結像レンズにて2次元画像検出器に結像 する方式を採用しています。 これにより、高出力レーザの発光ビームプロファイル・ビーム形状を正確に 計測することができ、また、微動ステージと組合せて、光学系を焦点方向に 移動させることにより、ビーム形状の出射方向の変化を測定することも可能 です。 【特長】 ■高出力レーザのパワーを測定可能な適正レベルまで減衰 ■最大20倍の観察光学倍率 ■同軸落射照明ポートを標準装備 ■同軸落射照明装置（オプション）との組合せで顕微鏡画像観察・実像に よる位置合わせが可能 ■光ビーム解析モジュールAP013との併用により、高出力レーザNFP 計測システムの構築が可能 ※詳しくは、お気軽にお問い合わせ下さい。
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基本情報
【仕様（抜粋）】 ■方式：ビームサンプラー搭載型NFP計測光学系+画像処理解析方式 ■測定対応波長域：400nm-1100nmの計測対応波長範囲から計測波長を選択 ■測定可能入射光量：～5W（標準）（応相談） ■対物レンズ倍率：10倍 ■N.A.：0.28 ■中間レンズ倍率：1倍（標準）、2倍（オプションの中間レンズ2倍仕様時）ほか ※詳しくは、お気軽にお問い合わせ下さい。
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企業情報
シナジーオプトシステムズ株式会社は、光学技術・センサ技術・エレクトロニクス・ソフトウエア・精密機構技術を融合したユニークで新しいセンサ・電子光学機器の創造を目指しています。当社では、光学設計・光センサ・光源・光モジュール・計測システム設計の各分野で多くの経験と実績を有するエンジニアが、お客様のご要求仕様を分析し、最適なソリューションをご提案させていただきます。また、お客様のご要求仕様に基づく光学系や光学システムをカスタムで設計・製作させていただくことも可能です。