マイグレーションテスタのメーカーや取扱い企業、製品情報、参考価格、ランキングをまとめています。
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マイグレーションテスタ - 企業4社の製品一覧

製品一覧

1~8 件を表示 / 全 8 件

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マイグレーションテスター 「Van-EE(MIG-87)」

チャンネル数16CHに限定することで「パーソナル&リーズナブル」を実現

マイグレーションテスター「Van-EE(MIG-87)」は、小型・軽量で、いつでもどこでも試験を開始することができ設置場所を選びません。マイグレーション発生確認が簡単で、試験条件設定・コントロール・データ表示はLANケーブルにて接続したパソコンから簡単に操作できます。詳しくはカタログをダウンロードしてください。

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マイグレーションテスター 「MIG-8600B」

1CH→1電源方式でマイグレーション発生時にもチャンネル間の影響は皆無

マイグレーションテスター「MIG-8600B」は、MIGシリーズの1CH→1電源方式で、安定した電圧を個別に供給し、正常時はもちろんのことマイグレーション発生時にもチャンネル間の影響は皆無です。絶縁抵抗法を各チャンネルに搭載しているので、高精度な連続測定が可能です。

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イオンマイグレーションテスター 「MIG-88」

新しい評価方法を提案する、今までに無い高性能テスターです。

イオンマイグレーションテスター「MIG-88」は、従来の絶縁抵抗(Rx)計測に加え、サンプルの誘電正接(tanδ)の計測も行うことで、従来のRxのみの計測では判らなかった試験中の絶縁劣化の傾向を把握する事を可能とします。マイグレーションテストの新しい評価方法を提案する、今までに無い高性能テスターです。

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ハイサイドマイグレーションテスター 「MIG-9000」

オープンケルビン検知をハイサイド側・リターン側共に全ch標準装備

ハイサイドマイグレーションテスター「MIG-9000」は、ハイサイド測定の基本であるオープンケルビン検知をハイサイド側・リターン側共に全ch標準装備しました。測定データの保存にメモリカードを採用 。小型ディスプレイ搭載で、ホストPCが無くても動作状態、異常内容を表示可能です。

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イオンマイグレーションテスターSIR13(絶縁信頼性評価装置)

独自開発したSMU計測ボード!業界最高水準の精度と高速測定を実現します!

『SIR13シリーズ』は、マイグレーション現象に代表される絶縁劣化測定だけ でなく、材料開発段階における絶縁特性評価など、幅広い用途に対応する 絶縁劣化・特性評価テスタです。 印加電圧の違う計測ボードを自由に選択でき、様々な用途に対応可能。 全CHに微小電流計を備え、絶縁抵抗値を連続かつ高速20msecで測定し、瞬時に 発生・終息するイオン(エレトクロケミカル)マイグレーション現象を正確に捉えます。 【特長】 ■独自開発したSMU計測ボードで、業界最高水準の精度と高速測定を実現 ■印加電圧の違う計測ボードを自由に選択でき、様々な用途に対応可能 ■拡張性や移動性、一体性など、試験目的に応じて選べる3種類の筺体 ■高電圧ユニットを使用する事で、最大10kV迄の電圧印加で絶縁評価が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 絶縁抵抗計
  • 評価ボード
  • その他計測・記録・測定器

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マイグレーションテスター 「MIG-87C」

絶縁劣化(イオンマイグレーション)を高精度に測定します。

マイグレーションテスター「MIG-87C」は、安定したデータを高精度に測定することができるようになりました。MIGシリーズは全チャンネル印加電源・計測回路の個別搭載。チャンネルごとに電流制限回路を搭載しているので、保護抵抗は一切不用です。詳しくはカタログをダウンロードしてください。

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絶縁劣化評価システム マイグレーションテスター

一括数百個の絶縁試験が可能、マイグレーションテスター

【一括数百個の試験ができ、リアルタイムデータ集計が可能】 □圧倒的な使い勝手の良さ  ◇ハイサイド計測の採用により、試料へのはんだ付け工数が大幅削減  ◇簡単操作のソフトウェアにより、直感的な操作が行えます  ◇レポート機能を搭載しています □高性能&高機能  ◇印加と計測はch毎に完全独立で16msの計測間隔を達成  ◇最大400chまでの増設が可能です  ◇各チャンネル毎に試験電圧が設定可能です □高い信頼性  ◇自己診断機能により異常計測を未然に防止  ◇データをCFカードへ記録するため、簡単にデータ抽出が可能 □シンプルなシステム  ◇テスター本体だけで計測が可能  ◇標準で1〜300Vのワイド印加電圧レンジ  ◇シンプルな構成のためメンテナンス性に優れます

  • 試験機器・装置
  • 受託測定
  • その他

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マイグレーションテスター『ECM-100シリーズ』

マイグレーション・絶縁抵抗の評価を高精度・高信頼性・高効率に実施!

『ECM-100シリーズ』は、J-RAS株式会社製の絶縁劣化評価システムで、 マイグレーションや絶縁抵抗の評価が高精度・高信頼性・高効率に行えます。 ハイサイド計測の採用により試料へのはんだ付け工数が大幅削減可能。 チャンネル毎に個別搭載の印加・計測回路により16msの計測間隔を達成により、 リークタッチ現象の検出能力が高く信頼性試験の品質が向上します。 また、途中経過の記録・報告に便利なレポート機能を搭載しています。 多用途な1~300Vのワイド印加電圧レンジです。 【特長】 ■1CH 完全独立計測:1CH 毎の電圧印加・高速16msec 計測回路 ■オールインワン計測:本体単体で計測・チャンバー制御も可能 ■優れた操作性:簡単操作と充実機能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • image_001.png
  • 評価ボード

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