マイグレーションテスター 「Van-EE(MIG-87)」
チャンネル数16CHに限定することで「パーソナル&リーズナブル」を実現
マイグレーションテスター「Van-EE(MIG-87)」は、小型・軽量で、いつでもどこでも試験を開始することができ設置場所を選びません。マイグレーション発生確認が簡単で、試験条件設定・コントロール・データ表示はLANケーブルにて接続したパソコンから簡単に操作できます。詳しくはカタログをダウンロードしてください。
- 企業:IMV株式会社
- 価格:応相談
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チャンネル数16CHに限定することで「パーソナル&リーズナブル」を実現
マイグレーションテスター「Van-EE(MIG-87)」は、小型・軽量で、いつでもどこでも試験を開始することができ設置場所を選びません。マイグレーション発生確認が簡単で、試験条件設定・コントロール・データ表示はLANケーブルにて接続したパソコンから簡単に操作できます。詳しくはカタログをダウンロードしてください。
1CH→1電源方式でマイグレーション発生時にもチャンネル間の影響は皆無
マイグレーションテスター「MIG-8600B」は、MIGシリーズの1CH→1電源方式で、安定した電圧を個別に供給し、正常時はもちろんのことマイグレーション発生時にもチャンネル間の影響は皆無です。絶縁抵抗法を各チャンネルに搭載しているので、高精度な連続測定が可能です。
絶縁劣化(イオンマイグレーション)を高精度に測定します。
マイグレーションテスター「MIG-87C」は、安定したデータを高精度に測定することができるようになりました。MIGシリーズは全チャンネル印加電源・計測回路の個別搭載。チャンネルごとに電流制限回路を搭載しているので、保護抵抗は一切不用です。詳しくはカタログをダウンロードしてください。
マイグレーション・絶縁抵抗の評価を高精度・高信頼性・高効率に実施!
『ECM-100シリーズ』は、J-RAS株式会社製の絶縁劣化評価システムで、 マイグレーションや絶縁抵抗の評価が高精度・高信頼性・高効率に行えます。 ハイサイド計測の採用により試料へのはんだ付け工数が大幅削減可能。 チャンネル毎に個別搭載の印加・計測回路により16msの計測間隔を達成により、 リークタッチ現象の検出能力が高く信頼性試験の品質が向上します。 また、途中経過の記録・報告に便利なレポート機能を搭載しています。 多用途な1~300Vのワイド印加電圧レンジです。 【特長】 ■1CH 完全独立計測:1CH 毎の電圧印加・高速16msec 計測回路 ■オールインワン計測:本体単体で計測・チャンバー制御も可能 ■優れた操作性:簡単操作と充実機能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。