治具交換式 リーク試験装置
コスト削減に貢献! 交換治具はワンタッチ接続!
交換治具は簡単なワンタッチでの接続となっており、段取り時間の短縮が見込まれます。装置は多機種対応の設計ですので、新たな機種測定が必要な場合でも、治具製作のみで済み、コスト削減に繋がるのではないかと思います。『TS−800』を宜しくお願い致します。
更新日: 集計期間:2026年10月14日~2026年11月10日
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コスト削減に貢献! 交換治具はワンタッチ接続!
交換治具は簡単なワンタッチでの接続となっており、段取り時間の短縮が見込まれます。装置は多機種対応の設計ですので、新たな機種測定が必要な場合でも、治具製作のみで済み、コスト削減に繋がるのではないかと思います。『TS−800』を宜しくお願い致します。
レーザ溶着装置に簡易リーク機能、後工程でリーク試験を実施!当社の生産装置をご紹介
当社で取り扱う、『レーザ樹脂溶着装置(生産機)後工程リーク試験機』を ご紹介いたします。 ガルバノスキャニング方式レーザを搭載した生産装置で、レーザ溶着装置に 簡易リーク機能、後工程でリーク試験を実施し、沈み込み量に加えて 品質保証をしております。 また、タッチパネルは日本語と中国語切り替えることが可能。 当社のレーザ溶着装置は全てJIS C6802の安全規格に則り、クラス1となります。 【搭載機器一例(一部)】 ■パナソニック製レーザ加工機 最大50W □200mmエリア ■接触式変位センサ4点(ワークの沈み込み量測定) ■ロードセル(加圧力確認) ■加圧方式 エアーシリンダ ■コスモ計器リークテスタ(漏れ確認) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
そのHEPA漏れてませんか? Doctor-HEPAで調べましょう!
そのHEPA漏れてませんか? Doctor-HEPAで調べましょう!
高温下で高圧電界を発生させデバイスの誤動作を評価するGLテスタ、AEC-Q100-006 REV-Cに準拠
高温下にあるICに高電界を加えると、ICのカタログ仕様に不適合の項目が発生する場合(例えばIcc、入力リーク、ACパラメータ、ファンクション特性)があります。これを電気熱誘導寄生ゲートリーク(GL)と言います。GLが発生したデバイスは"不良"とみなされますが、GL不良は通常125℃ 4時間(または150℃ 2時間)のベーキングで回復します。 本装置は、高温下で電界を発生させる装置で、AEC-Q100-006 REV-Cに準拠するGL試験を行います。手動試験のモデル 6900Mと、自動試験のモデル 6900Aがあります。 ※製品の仕様は予告なく変更になる場合がございます。ご了承下さい。
IIoTを駆使したソリューションで人手を介した作業の工数問題やヒューマンエラーを解決!Vol7は【省エネ・環境編】をご紹介します
ソリューションカタログ Vol7 【省エネ・環境編】では、協立電機の得意とするIIoT分野での技術力、購買能力を活かしたソリューション事例を紹介致します。 One Stop Shoppingを掲げソリューションを提供する協立電機だから出来る最善のご提案事例をご確認下さい。