更新日： 集計期間:2025年04月02日～2025年04月29日
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材料分析・異物分析に適した微量元素・軽元素の分析を実施します。
EPMA、FE-EPMA、XRFの分析方法である波長分散型X線分析法（WDX）を用いて、微量元素・軽元素の受託分析サービスを実施致します。 WDX装置はエネルギー分散型X線分析装置（EDX）よりも波長分解能が優れており、微量元素や軽元素の検出感度が高い分析が可能です。 そのため金属材料の判別や微量元素の拡散状態の分析、異物の分析等の微量元素分析にご利用いただけます。
試料表面に含有される元素(B～U)の定性・定量分析を実施します。
エネルギー分散型X線分析（EDX）による元素分析サービスでは、EDX装置から電子線を試料に当てることで励起される特性X線のエネルギーを測定し、得られるスペクトルから試料表面の元素分析を実施致します。 試料表面のどこに、どのような元素が（定性）、どれぐらいの量（定量）含まれているかを分析することが可能です。
圧着端子の接合部状態や接合方法、部材の種類を調査！断面観察及びSEM/EDXによる元素分析のご紹介
『銅端子の断面観察とSEM/EDXによる元素分析』についてご紹介いたします。 抵抗測定用銅圧着端子治具の接合部について断面作製を実施し、作製した断面に ケミカルエッチングを施し、エッチング前後で金属組織を観察。 その結果、検出元素が、P(リン) Ag(銀) Cu(銅)であることから、銀入りの りん銅ロウ付け材であると推察します。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
ICP-MS：誘導結合プラズマ質量分析法
クリーンルームや生産ラインなどの環境中に浮遊する金属元素は、製品に付着・混入することで、製品の性能悪化の原因となり得ます。ICP-MSでは、清浄なSiウエハで暴露試験を行い、表面に付着した金属元素量をpptレベルで測定することができます。 なお、事前に洗浄処理をしたSiウエハの貸出しも行っております。
パネルサイズにより、ICP-AES/MS装置を使い分けて分析する事が可能です！
信頼性試験前後のパネルを用いてICP測定を行い、定量化を行った事例を ご紹介します。 LCDの液晶分子はパネル内で配向しており、電圧により液晶の配向状態が 変わる事で表示が制御されます。金属元素のようなイオン性物質がパネル 内部に存在すると液晶が正しく駆動せず表示不良が発生。 イオン性物質は、製造時の混入や長期使用で増加することが知られており、 定量化して把握する事がパネル品質として重要です。 金属イオンは、ICP分析を用いることで定量分析を行うことが可能であり、 前処理方法や検出感度の違いにより、ICP-AES/MSを使い分けて行います。 【解析内容】 ■ICP-AES分析による金属元素含有量の比較 ■ICP-MS分析による金属元素含有量の比較 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
卑金属マトリックス中の微量PGEを測定！iCAP PRO XP ICP-OES
白金族元素は、元素周期表の中央あたりに位置する金属のグループでPGEと呼ばれています。 電子材料には、低電圧・低電力の基材、熱電対、炉構成材および電極として、多様な組成のPGE合金が使用されています。また、化学工業や石油化学工業では、PGEの優れた触媒特性を生かしさまざまな有機合成化学品の製造過程で使用されています。、自動車工業ではエンジンから排出される有害物質表1. 装置パラメーターを減らすため、触媒コンバーターの酸化還元剤としてPGEを使 用しており、副反応を制御する金属と共にセラミック製の基材に添加します。 iCAP PRO XP ICP-OESは、卑金属マトリックス中の微量PGEを測定できます。
主成分から極微量成分まで！様々なモノを溶かして分析することを得意としています
TTCの「無機元素分析」をご紹介いたします。 主成分から極微量成分まで、豊富なノウハウを用いて、ICP-MS・ICP-OESによる 様々な素材・製品の分析が可能。 お客様のご要望に合わせて好適な分析方法をご提案いたします。 過去の分析事例やアプリケーションに関しては、ホームページをご覧ください。 【特長】 ■様々なモノを溶かして分析 ■主成分から極微量成分まで対応 ■豊富なノウハウ ■ICP-MS・ICP-OESによる様々な素材・製品の分析が可能 ■お客様のご要望に合わせて好適な分析方法をご提案 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
