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ニューノーマル時代に短期間で実装可能！単一方向で検出できる光学式タッチセンサモジュール
当製品は、ニューノーマルに適応可能なNeonode社が特許取得している 独自技術「zForce テクノロジー」で、非接触での画面やキー入力を 実現可能にしている非接触光学式センサです。 Neonod社の長年にわたる技術ライセンスの供与と高度な光学技術の R&Dの経験から、光学反射技術を組み込んだセンサモジュールの ご提供が可能。 非接触タッチをはじめ、非接触スイッチ、空中結合、ジェスチャー、 エクスプローラーキットなどにご使用いただけます。 【特長】 ■独自技術のzForce テクノロジ ■厳しい環境下でも使用可能 ■光学反射技術を組み込んだセンサ ■短期間で実装可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
人体通過検知自動改札機等に応用できる組込み用光学式センサーなど！
当社の「生産品～技術部門試作、開発製品例」についてご紹介いたします。 酪農関連機器の牛精子解凍装置や、自社工程検査装置として使用する 電磁ブレーキ(生産品)の検査装置など。 ご用命の際は、当社へお気軽にお問い合わせください。 【生産品、開発設計製品の一部】 ■組込み用光学式センサー ■酪農関連機器：牛精子解凍装置 ■モーター評価装置：PWM制御、回転数計測 ■セキュリティ機器(回路設計、構造設計、生産) ■自社工程検査装置：電磁ブレーキ(生産品)の検査装置 ■自社工程検査装置：通電検査装置 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
ドープウエハに適切な光源波長を使用し、難しいドープウエハ厚み測定に対応
『CHRocodile 2DWシリーズ』は、ウエハやコーティングなど材料厚みを非接触測定できる装置です。ドープウエハ測定にも対応でき、インラインでも適用可能で、多くのお客様へ実績があります。サファイア、Si、SiC等の半導体ウェハー厚み測定をはじめ、フイルム、樹脂、ガラス、太陽電池等の厚み測定も可能です。干渉膜厚最大16層まで対応しています。 【特長】 ■幅広い厚み測定範囲 、様々な材質に対応 豊富なプローブラインナップで、厚みは薄膜（数um)～厚膜(780um)までカバー。ドープウエハ対応。 ■高分解能（サブミクロン 最小1nm） ■開発コスト低減、開発納期短縮に貢献できる、 装置組込み用のソフト開発キット（DLLなど)も用意 ■半導体業界で豊富な実績 ※詳しくは資料をご覧ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。
レーザー材料加工および光学測定技術のスペシャリスト！
プレシテックは、レーザー材料加工および光学測定技術のスペシャリストです。 当社は、単なるシステムおよびコンポネントのサプライヤーではなく、 お客様の円滑な加工プロセスの専門的なパートナーです。 基礎段階からご相談に応じ、お客様と共にお客様の要望ならびに目的を 的確にコンサルトします。 これによって、お客様の用途に適切なソリューションを提供することができます。 【事業内容】 ■レーザーマテリアル加工 ■光学測定技術 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
薄膜（数um)～厚膜(780um)まで高精度に測定できる幅広いプローブをラインナップ。ウエハ検査用途にも。
『CHRocodile 2シリーズ』は、サブミクロン分解能でウエハ厚のインプロセス測定が可能な非接触センサーです。 抜き取りでの品質管理にも使われています。半導体業界の他、コンシューマー家電、ガラス製造、メディカル分野で採用されており、透明体厚み、コーティング厚み測定、複数層の同時測定（最大16層）に適しています。 【特長】 ■幅広い厚み測定範囲 、様々な材質に対応 豊富なプローブラインナップで、厚みは薄膜（数um)～厚膜(780um)までカバー。 材質に合わせて二つの原理方式から選択可能。 ■高分解能（サブミクロン 最小1nm） 「色収差共焦点方式」、「分光干渉方式」の原理による高分解能測定 ■開発コスト低減、開発納期短縮に貢献できる、 装置組込み用のソフト開発キット（DLLなど)も用意 ■多業界で豊富な実績 半導体業界、コンシューマー家電、ガラス製造、メディカル分野 ※詳しくは資料をご覧ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。
非接触の光学厚み測定。高精度が求められる半導体ウエハの厚み測定でも適用可能。
新製品『CHRocodile 2LR ver2』は、ウエハやコーティングなど材料厚みを非接触測定できる装置です。前回の『CHRocodile 2LR』と異なる新ディテクタを採用し、約２倍の厚み測定範囲、かつより高精度に測定できるようになりました。インラインでも適用可能で、CHRocodile 2LRは多くのお客様へ実績があります。Si等の半導体ウェハー厚み測定をはじめ、フイルム、樹脂、ガラス、太陽電池等の厚み測定も可能です。干渉膜厚最大16層まで対応しています。 【特長】 ■幅広い厚み測定範囲 、様々な材質に対応 豊富なプローブラインナップで、厚みは薄膜（数32um)～厚膜(3900um)までカバー。(高精度な測定帯域は、16~1900um。線形性0.35um) ■高分解能（サブミクロン 最小1nm） ■開発コスト低減、開発納期短縮に貢献できる、 装置組込み用のソフト開発キット（DLLなど)も用意 ■半導体業界で豊富な実績 ※詳しくは資料をご覧ください。
ローラーの回転で速度を検出します
繊維産業で活躍する、ヤーンスピードセンサーです。 ローラーが回転すると光学センサーが、電気信号を出力し 速度を検出することができます。 1回転で2パルス出力しますので スピードの変動から断線を検知します。 ご要望の際はお気軽にお問い合わせください。
フォークライトバリアやTCPレーザー計測機器などをご紹介！
当カタログでは、丸紅エレネクスト株式会社にて取り扱う光学式センサを ご紹介しております。 フォークライトバリアのバリエーションやピン配列、可能な設定、 テクニカルデータの他、TCPレーザー計測機器、アクセサリーの 概要などについても掲載。 製品の選定に是非ご活用ください。 【掲載内容】 ■フォークライトバリア ・レーザーフォークライトバリア ・耐環境仕様 レーザーフォークライトバリア ■TCPレーザー計測機器 ■アクセサリー ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
自動認識用センサなどを開発！光学式センシング技術の応用事例をご紹介！
株式会社池上精機では、企画・設計から電気回路、ソフトウェア、部品加工、 組み立てまで、ものづくりに必要な一連の流れを一括してお任せいただけます。 『光学式センシング技術』を応用した開発事例としては、 「受光強度の変化量計測や比較検出技術」をはじめ、「吸光度計測技術」や 「自動認識用センサ（バーコード、画像判定等）」などがございます。 【事例】 ■受光強度の変化量計測や比較検出技術 ■吸光度計測技術 ■光学を利用した微小たわみ量検出技術、関連制御技術 ■特定波長を用いた特長抽出による真贋判定技術 ■自動認識用センサ（バーコード、画像判定等） ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
多種多様な材料の厚み測定、広い測定レンジから加工中と加工前後を1台で対応！ウエハ検査用途にも。
プレシテックの2ITシリーズは、分光干渉法を利用した非接触の厚み測定用センサでです。 高速・高精度な厚み測定を得意としており、ウエハ・フィルム・コーティング・エアギャップなどの 厚み測定・検査などに使用されています。 不純物/ドープウエハの測定も可能です。 その他の特長は、幅広い測定範囲 、大きな許容角度、様々な材質に対応できることです。 稼働ステージによるスキャンをせずに、面での測定が可能なエリアスキャナもあります。 半導体製造装置への搭載実績も多数あり、LCD製造装置、フィルムの厚みモニタリング/In-Situ/インライン検査でも使用されています。 また、スタンドアロンなどの卓上機の組み込み用センサとしても利用されています。 【アプリケーション】 ウエハ加工(研磨など）前後、加工中の厚み測定、フィルム/コーティング厚み測定、ガラスウエハ肉厚検査、ＴＴＶ，厚み分布、PCBコーティング厚み、バッテリー用ホイル厚み、ガラス厚み/、エアギャップなど。
移動量と傾きを同時測定いたします。 非接触で測定しますので、測定治具などの制約がありません。
変位計とオートコリメータを内蔵した1台の光学センサーです。 広視野の角度測定と高分解能の変位計測を両立しています。 処理機能を本体に内蔵していますので、配線などは必要ありません。電源ユニットを接続するだけで、すぐに測定することが出来ます。
【電子部品の調達支援】生産中止品（EOL品）や入手困難な電子部品・半導体の緊急調達をサポート！徹底的な検査体制を整備。
【こちらの型番製品をお探しですか？】 ■メーカー名：OMRON ■型番名：XG4A-1631 オーエン株式会社は、生産中止や納期トラブルにより入手困難になった電子部品を 世界中のネットワークからスピーディーに緊急調達いたします。 必ずお見積書を発行いたしますので、発注前に詳細を確認できて安心です。 市場流通在庫を20年にも渡り見続けてきたベテラン検査員が検査を行い、 合格品のみを出荷します。全ての納品物には検査報告書を同封します。 【当社の検査体制】 ■X線検査 非破壊検査で内部構造を確認し、模造品や粗悪品を検出します。 ■マイクロスコープ リード曲がりや、印字フォントの違和感も細かく確認します。 ■デジタルノギス 100分の1mm単位の寸法測定で、巧妙に作られた模造品を検出します。 ■カーブトレーサー 端子間の電圧・電流の特性波形を画面上に表示し、不良品を検出します。 ★下記のリンクから当社ウェブサイトをご覧ください。 ★下記のダウンロードボタンからは、当社の会社案内をご覧いただけます。 ▼その他お問い合わせ可能な型番は、下記ラインナップをご参照ください。
【電子部品の調達支援】生産中止品（EOL品）や入手困難な電子部品・半導体の緊急調達をサポート！徹底的な検査体制を整備。
【こちらの型番製品をお探しですか？】 ■メーカー名：SHARP ■型番名：GP1S196HCPSF オーエン株式会社は、生産中止や納期トラブルにより入手困難になった電子部品を 世界中のネットワークからスピーディーに緊急調達いたします。 必ずお見積書を発行いたしますので、発注前に詳細を確認できて安心です。 市場流通在庫を20年にも渡り見続けてきたベテラン検査員が検査を行い、 合格品のみを出荷します。全ての納品物には検査報告書を同封します。 【当社の検査体制】 ■X線検査 非破壊検査で内部構造を確認し、模造品や粗悪品を検出します。 ■マイクロスコープ リード曲がりや、印字フォントの違和感も細かく確認します。 ■デジタルノギス 100分の1mm単位の寸法測定で、巧妙に作られた模造品を検出します。 ■カーブトレーサー 端子間の電圧・電流の特性波形を画面上に表示し、不良品を検出します。 ★下記のリンクから当社ウェブサイトをご覧ください。 ★下記のダウンロードボタンからは、当社の会社案内をご覧いただけます。 ▼その他お問い合わせ可能な型番は、下記ラインナップをご参照ください。
【電子部品の調達支援】生産中止品（EOL品）や入手困難な電子部品・半導体の緊急調達をサポート！徹底的な検査体制を整備。
【こちらの型番製品をお探しですか？】 ■メーカー名：OMRON ■型番名：XG4M-2630 オーエン株式会社は、生産中止や納期トラブルにより入手困難になった電子部品を 世界中のネットワークからスピーディーに緊急調達いたします。 必ずお見積書を発行いたしますので、発注前に詳細を確認できて安心です。 市場流通在庫を20年にも渡り見続けてきたベテラン検査員が検査を行い、 合格品のみを出荷します。全ての納品物には検査報告書を同封します。 【当社の検査体制】 ■X線検査 非破壊検査で内部構造を確認し、模造品や粗悪品を検出します。 ■マイクロスコープ リード曲がりや、印字フォントの違和感も細かく確認します。 ■デジタルノギス 100分の1mm単位の寸法測定で、巧妙に作られた模造品を検出します。 ■カーブトレーサー 端子間の電圧・電流の特性波形を画面上に表示し、不良品を検出します。 ★下記のリンクから当社ウェブサイトをご覧ください。 ★下記のダウンロードボタンからは、当社の会社案内をご覧いただけます。 ▼その他お問い合わせ可能な型番は、下記ラインナップをご参照ください。
