白色光干渉計 IMS5400-TH
サブマイクロメートル精度で安定した厚み測定を行うための白色光干渉計です
距離変動や振動している計測対象のナノメートル精度の厚み測定 反射防止コーティングされたガラスも安定して計測可能 Webインターフェイスを介した容易な設定
- 企業:三協インタナショナル株式会社
- 価格:応相談
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サブマイクロメートル精度で安定した厚み測定を行うための白色光干渉計です
距離変動や振動している計測対象のナノメートル精度の厚み測定 反射防止コーティングされたガラスも安定して計測可能 Webインターフェイスを介した容易な設定
真空環境下及びクリーンルーム内で計測の出来る白色光干渉計です
ナノメートル精度の絶対距離測定 30ピコメートルの高分解能 真空環境に適したセンサ及びケーブル