1～3 件を表示 ／ 全 3 件
ICP発光分光分析装置 生産性と信頼性を高めるスマートシステム Agilent 5800 ICP-OES
Agilent 5800 ICP-OES 特長 ・ICP-OES 専用の世界最速 CCD 検出器により、迅速な測定によるトータルランニングコスト低減 ・垂直トーチと独自の高周波技術により高いマトリクス耐性を実現 ・全波長高速スキャン（Intelli Quant 2.0） 全てのサンプルで測定 サンプル毎に、他の元素によるスペクトル干渉情報の表示 ・検量線から検出下限値を自動算出（QC 機能） ・測定値の統計・検定機能によりデータ解析を支援 ・ネブライザーガス圧力の常時モニタリング（PRO Software） ・メンテナンスが必要なタイミングを通知（通知タイミングはカスタマイズ可能） ・独自技術によりコンパクトな光学設計を実現して、検出下限・分解能がさらに向上
高感度で ppb レベルまでの検出限界があり、一般的な多元素分析について従来のフレーム原子吸光 (AA) よりも高速です。
Agilent 4210 MP-AES の特に優位な点は、Agilent 4210 MP-AES が可燃性ガスではなく空気を利用して動作することです。 Agilent MP-AES を使用したお客様の声: 「これまで使用してきた AA (原子吸光) 機器をアジレントの MP-AES に交換したことで、ラボで分析できるサンプルの量および幅がともに向上しました。この堅牢なプラットフォームでは、1 つのサンプルで高感度の多元素分析をすばやく実行できます。優れたソフトウェア機能により、豊富な解析データも得られます。また、ドリフトが生じないため、180 回のサンプル分析後も QC 範囲から外れることがありません。これは AA 機器では得られなかった性能です」 Joaquim A. Nóbrega 教授、サン・カルロス国立大学、ブラジル
ICP発光分光分析装置 最小限の所有コストと最大限の生産性をスマートに実現 Agilent 5900 ICP-OES
Agilent 5900 ICP-OES 特長 ・ICP-OES 専用の業界最速クラスの CCD 検出器により、迅速な測定によるトータルランニングコスト低減 ・アキシャル・ラディアルを同時測定 ・垂直トーチと独自の高周波技術により高いマトリクス耐性を実現 ・全波長高速スキャン（Intelli Quant 2.0） 全てのサンプルで測定 サンプル毎に、他の元素によるスペクトル干渉情報の表示 ・検量線から検出下限値を自動算出（QC 機能） ・測定値の統計・検定機能によりデータ解析を支援 ・ネブライザーガス圧力の常時モニタリング（PRO Software） ・メンテナンスが必要なタイミングを通知（通知タイミングはカスタマイズ可能） ・独自技術によりコンパクトな光学設計を実現して、検出下限・分解能がさらに向上
