可視近赤外反射測定用分光測定システム
異なる波長域を持つ2台の分光器を組み合わせた広帯域分光反射測定システム！
『OP-SpecWide-RF』は、可視から近赤外域（400～1650nm）までの 幅広い測定範囲をカバーした安価型の広帯域分光反射測定システムです。 シリコンCCDディテクタ搭載のFLAME-S分光器で可視域の測定に、またInGaAs ディテクタ搭載のFLAME-NIRで近赤外域の測定に対応し、付属の分光測定用 標準ソフトウェアOPwave+で2つのスペクトルの表示、データ保存が可能です。 異なる2つの分光器の組み合わせで、広帯域の分光光度計と 同様の測定システムとしてご使用いただけます。 サンプルホルダ、光学ステージの選択により、広帯域に反射分布を持つ 半導体、コーティング、食物など様々な材料の反射測定に対応できます。 【特長】 ■幅広い測定範囲をカバー ■安価型 ■可視域・近赤外域の測定に対応 ■広帯域の分光光度計と同様の測定システム ■様々な材料の反射測定に対応可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：オーシャンフォトニクス株式会社
- 価格：応相談
