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分光測定システム - メーカー・企業と業務用製品 | イプロスものづくり

分光測定システムの製品一覧

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LED測定システム

LED測定システム

分光分析は食品、飲み物、製薬、織物、化学、石油化学、生物化学、宇宙科学など多様な産業分野で使われています。これらは、ほんの一例です。アヴァンテス社はお客様のご要望に応じた測定の提供を常に心掛けております。このような広範な産業分野のお客様を助けるため、色測定、分光放射測定、吸光度測定、透過率測定、反射率測定、膜厚測定、プロセスコントロール、ラマン分光などの測定技術を開発しました。 アヴァンテス社では、マルチチャンネル分光器を中心に多くのアクセサリー、OEM用部品などお客様のトータルサポートを提供いたします。また、新しいアプリケーションなどによりシステム、ソフトウェアのカスタマイズも可能です。アヴァンテス社のアプリケーションと機械工学の知識が、優れた顧客満足の提供をし続けることを可能にしました。

  • 光学測定器
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可視近赤外反射測定用分光測定システム

異なる波長域を持つ2台の分光器を組み合わせた広帯域分光反射測定システム!

『OP-SpecWide-RF』は、可視から近赤外域(400~1650nm)までの 幅広い測定範囲をカバーした安価型の広帯域分光反射測定システムです。 シリコンCCDディテクタ搭載のFLAME-S分光器で可視域の測定に、またInGaAs ディテクタ搭載のFLAME-NIRで近赤外域の測定に対応し、付属の分光測定用 標準ソフトウェアOPwave+で2つのスペクトルの表示、データ保存が可能です。 異なる2つの分光器の組み合わせで、広帯域の分光光度計と 同様の測定システムとしてご使用いただけます。 サンプルホルダ、光学ステージの選択により、広帯域に反射分布を持つ 半導体、コーティング、食物など様々な材料の反射測定に対応できます。 【特長】 ■幅広い測定範囲をカバー ■安価型 ■可視域・近赤外域の測定に対応 ■広帯域の分光光度計と同様の測定システム ■様々な材料の反射測定に対応可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他計測・記録・測定器
  • 分光分析装置
  • 分光測定システム

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可視近赤外透過測定用分光測定システム

異なる波長域を持つ2台の分光器を組み合わせた広帯域分光透過測定システム!

『OP-SpecWide-TR』は、可視から近赤外域(400~1650nm)までの 幅広い測定範囲をカバーした安価型の広帯域分光透過測定システムです。 シリコンCCDディテクタ搭載のFLAME-S分光器で可視域の測定に、またInGaAs ディテクタ搭載のFLAME-NIRで近赤外域の測定に対応し、付属の分光測定用 標準ソフトウェアOPwave+で2つのスペクトルの表示、データ保存が可能です。 異なる2つの分光器の組み合わせで、広帯域の分光光度計と 同様の測定システムとしてご使用いただけます。 サンプルホルダ、光学ステージの選択により、 様々な液体試料から固体試料の透過/吸光度測定に対応できます。 【特長】 ■幅広い測定範囲をカバー ■安価型 ■可視域・近赤外域の測定に対応 ■広帯域の分光光度計と同様の測定システム ■様々な液体試料から固体試料の透過/吸光度測定に対応 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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illumiaシリーズ全光束分光測定システム

全光束を短時間で測定。低価格・全光束分光測定システム

illumiaシリーズは、LED・液晶バックライト・白熱灯・アークランプ・蛍光灯などの全光束を短時間で測定可能なシステムです。 従来のSLMSの基本性能を押さえながら、お求め安い価格でご提供できるシステムです。 【測定項目】 ・分光放射強度スペクトル(W/nm vs.nm) ・分光放射強度(W) ・全光束(lm) ・相関色温度(K) ・色度座標(x,y)(u,v) ・色度図 ・演色評価数(Ra)(R1,R2,・・・,R15) ・ドミナント波長(nm) ・ピーク波長(nm) ・中心波長(nm) ・重心波長(nm) ・半値幅(nm) ・色純度 ◇付属ソフトで、システム校正からデータの保存までコントロール。   データはエクセルへの変換ができ、レポート作成も簡単に実行可   能。

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