異なる波長域を持つ2台の分光器を組み合わせた広帯域分光反射測定システム！
『OP-SpecWide-RF』は、可視から近赤外域（400～1650nm）までの 幅広い測定範囲をカバーした安価型の広帯域分光反射測定システムです。 シリコンCCDディテクタ搭載のFLAME-S分光器で可視域の測定に、またInGaAs ディテクタ搭載のFLAME-NIRで近赤外域の測定に対応し、付属の分光測定用 標準ソフトウェアOPwave+で2つのスペクトルの表示、データ保存が可能です。 異なる2つの分光器の組み合わせで、広帯域の分光光度計と 同様の測定システムとしてご使用いただけます。 サンプルホルダ、光学ステージの選択により、広帯域に反射分布を持つ 半導体、コーティング、食物など様々な材料の反射測定に対応できます。 【特長】 ■幅広い測定範囲をカバー ■安価型 ■可視域・近赤外域の測定に対応 ■広帯域の分光光度計と同様の測定システム ■様々な材料の反射測定に対応可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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基本情報
【システム構成例】 ■FLAME-S ファイバマルチチャンネル分光器 グレーティング#3: 350～1000nm ／入射スリット幅 5μm ■FLAME-NIR 近赤外ファイバマルチチャンネル分光器 グレーティング＃NIR3: 950～1650nm／入射スリット幅 25μm ■HL-2000-LL ハロゲン光源 ■R200-12-MIXED 3分岐広帯域反射プローブ ■OPwave+ 分光測定用標準ソフトウェア ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
価格帯
納期
用途／実績例
【用途】 ■食品、農産物の反射測定による分光分析 ■レンズ・フィルタなど光学部品の反射測定 ■半導体、太陽電池基板、ガラス材料などの反射測定 ■薄膜・コーティングの干渉スペクトル測定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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企業情報
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