光学式細孔率・細孔分布測定装置 世界唯一の分光エリプソメーター技術でのEP(光学式ポロシメーター)細孔率・細孔分布測定装置 ■ 前処理が必要がなく、 20分/ポイントと従来型に比べて高速に測定が可能です。 企業:日本セミラボ株式会社 新横浜本社 価格:応相談 半導体検査/試験装置その他計測・記録・測定器分析機器・装置 ブックマークに追加いたしました ブックマーク一覧 ブックマークを削除いたしました ブックマーク一覧 これ以上ブックマークできません 会員登録すると、ブックマークできる件数が増えて、ラベルをつけて整理することもできます 無料会員登録