アルネアラボラトリ社製 ウェハ厚み測定器
波長掃引方式により、シリコン基板の厚みを、非接触で高感度にリアルタイム測定
・シリコン、インジウムリンなどのウェハの厚みを非接触測定 ・ウェットエッチング中のリアルタイム測定など、過酷な環境下での測定可能 ・精密制御された波長可変光源で、高感度に測定 ・0.1μm以下の測定精度で高い再現性 ・シリコン以外も、測定対象物、測定サイズ・形状によってカスタマイズ可能
- 企業:兼松PWS株式会社
- 価格:応相談
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波長掃引方式により、シリコン基板の厚みを、非接触で高感度にリアルタイム測定
・シリコン、インジウムリンなどのウェハの厚みを非接触測定 ・ウェットエッチング中のリアルタイム測定など、過酷な環境下での測定可能 ・精密制御された波長可変光源で、高感度に測定 ・0.1μm以下の測定精度で高い再現性 ・シリコン以外も、測定対象物、測定サイズ・形状によってカスタマイズ可能