酸化膜・金属膜厚測定装置 Surface Scan【CP-M1】
様々な金属の酸化膜や金属膜が「簡単に」・「短時間で」測定可能 ‼【 連続電気化学還元法】を用いた高性能な膜厚測定装置のご紹介！
株式会社サーマプレシジョンは、プリント基板を始めとして、半導体・ＬＣＤ・ＰＤＰ等主要電子部品の製造装置、検査分析装置の販売を通して日本国内の電子部品メーカー様へ最先端の技術を提供しております。 【酸化膜・金属膜厚測定機について】 PC-M1は連続電気化学還元法を用いて薄膜酸化膜厚、薄膜金属膜厚が容易に測定できる装置です。 【酸化膜測定可能金属】 [酸化膜測定について] ○銅：Cu2O CuO Cu2S ○錫：SnO SnO2 ○銀：Ag2O AgCl Ag2SO4 Ag2S 〇上記以外（アルミ等々）についてはご相談ください 各種Å（オングストローム）単位で測定します 【他分析器との比較】 PC-M1 他分析器 測定時間 数百秒 数時間 酸化膜種類の判別 可能 困難 金属間化合物の測定 可能 困難 設備費用 千万位内 数千～億 取り扱いやすさ 容易 困難 最小測定面積 mm² μｍ² 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
- 企業：株式会社サーマプレシジョン
- 価格：応相談
