デュアルコム分光法測定機
デュアルコム分光法を利用！光学部品、結晶などの材料の物性評価に活用が期待されます
『デュアルコム分光法測定機』は、フーリエ分光法の一つであるデュアルコム 分光法を用いて、干渉波形の光学遅延を測定します。 干渉波形の光学遅延と試料の厚さから試料の複素屈折率スペクトルを求めます。 光学部品、結晶などの材料の物性評価に活用が期待されます。 当製品は、JST,ERATO美濃島 知的光シンセサイザプロジェクトの成果をもとに 製作しました。 【特長】 ■デュアルコム分光法を用いて、干渉波形の光学遅延を測定 ■干渉波形の光学遅延と試料の厚さから試料の複素屈折率スペクトルを求める ■光学部品、結晶などの材料の物性評価に活用が期待できる ■JST,ERATO美濃島 知的光シンセサイザプロジェクトの成果をもとに製作 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：ネオアーク株式会社 東京営業部
- 価格：応相談
