デュアルコム分光法を利用！光学部品、結晶などの材料の物性評価に活用が期待されます
『デュアルコム分光法測定機』は、フーリエ分光法の一つであるデュアルコム 分光法を用いて、干渉波形の光学遅延を測定します。 干渉波形の光学遅延と試料の厚さから試料の複素屈折率スペクトルを求めます。 光学部品、結晶などの材料の物性評価に活用が期待されます。 当製品は、JST,ERATO美濃島 知的光シンセサイザプロジェクトの成果をもとに 製作しました。 【特長】 ■デュアルコム分光法を用いて、干渉波形の光学遅延を測定 ■干渉波形の光学遅延と試料の厚さから試料の複素屈折率スペクトルを求める ■光学部品、結晶などの材料の物性評価に活用が期待できる ■JST,ERATO美濃島 知的光シンセサイザプロジェクトの成果をもとに製作 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
この製品へのお問い合わせ
基本情報
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
価格帯
納期
用途／実績例
【用途】 ■光学部品、結晶などの材料の物性評価 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
カタログ（1）
カタログをまとめてダウンロード
企業情報
日本におけるレーザメーカの草分け。30年に及んでHeNe、半導体、YAG、CO2、ルビー等の各種レーザを開発、供給してまいりました。 最近は、振動計、変位計、レーザ直接描画装置、磁気光学特性測定装置など、レーザ応用システム商品のラインアップも増え、レーザに関わるあらゆるニーズに答えるべく、努力しております。
