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試料を加熱しながら結晶構造の変化をその場で観察できる分析手法！
当社で行っている「高温X線回折測定」についてご紹介いたします。 当社の装置は、半導体検出器と高温加熱炉を組み合わせることで、 相変化や結晶構造の変化をリアルタイムで評価することが可能です。 半導体検出器による高速測定により、昇温過程における結晶構造の変化や 相変化を効率よく測定することができます。 【特長】 ■試料を加熱しながら結晶構造の変化をその場で観察可能 ■加熱や雰囲気制御下で生じる相変化、化学反応などをリアルタイムで評価 ■半導体検出器による高速測定 ■結晶構造の変化や相変化を効率よく測定 ■加熱に伴う材料の構造変化や反応過程を経時的に評価 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
X線モノキャピラリと半導体検出器との組み合わせ！微小領域の構造解析や微小部分析の測定速度を大幅に向上
X線回折（XRD）は、結晶性物質にX線を照射したときに起こる回折現象を ピークとして捉え、そのパターン、ピーク幅、強度等からその物質の 化合物種の同定や結晶構造に関する情報を得ることが出来ます。 「微小部X線回折装置」では、X線モノキャピラリと半導体検出器との 組み合わせにより、微小領域の構造解析や微小部分析の測定速度を 大幅に向上。 微小物質の化合物形態、残留応力測定等の微小部分における各種調査に 応用出来ます。また、モノキャピラリにより、照射X線を100μmまで 絞ることで、サンプルを100μmの領域で構造解析することが可能です。 モノキャピラリは、全反射によってX線を取り出すため、X線の減衰が 少なく微小部分析に有効です 【特長】 ■微小部分における各種調査に応用可能 ■サンプルを100μmの領域で構造解析することが可能 ■X線の減衰が少なく微小部分析に有効 ■特定部位における測定に有効 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい
XRD：X線回折法
2次元検出器を用いて測定を行うと、回折角(2θ)に加えてあおり方向(χ)の情報も同時に得られます。観測される2次元回折像は材料の結晶性や配向性などの特徴を可視化することが出来るため、配向性が特性に影響する材料の評価に有効です。
微小異物や腐食生成物の化合物同定など、さまざまな調査に活用可能！
当社が行っている「微小部X線回折測定」についてご紹介いたします。 X線を照射して得られる回折パターンから、化合物の同定や 結晶構造に関する情報を得ることができる分析手法です。 モノキャピラリと半導体検出器の組み合わせにより、 微小領域の構造解析や局所分析を効率的に行うことができます。 【特長】 ■化合物の同定や結晶構造に関する情報を取得 ■試料表面上の微小領域を対象とした測定が可能 ■微小領域の構造解析や局所分析を効率的に実施 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
