試料を加熱しながら結晶構造の変化をその場で観察できる分析手法！
当社で行っている「高温X線回折測定」についてご紹介いたします。 当社の装置は、半導体検出器と高温加熱炉を組み合わせることで、 相変化や結晶構造の変化をリアルタイムで評価することが可能です。 半導体検出器による高速測定により、昇温過程における結晶構造の変化や 相変化を効率よく測定することができます。 【特長】 ■試料を加熱しながら結晶構造の変化をその場で観察可能 ■加熱や雰囲気制御下で生じる相変化、化学反応などをリアルタイムで評価 ■半導体検出器による高速測定 ■結晶構造の変化や相変化を効率よく測定 ■加熱に伴う材料の構造変化や反応過程を経時的に評価 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
この製品へのお問い合わせ
企業情報
●研究・開発と品質保証のパートナー ●製品の「開発・設計」から「計測・評価・生産」「品質保証・メンテナンス」までのあらゆる技術的課題を「迅速かつ的確」に解決 ●129年の歴史を誇る川崎重工グループの研究開発支援企業 ●川崎重工業技術研究所などの研究開発部門との協調による確かな技術力 ●先端技術分野への積極的取り組み
