微小異物や腐食生成物の化合物同定など、さまざまな調査に活用可能！
当社が行っている「微小部X線回折測定」についてご紹介いたします。 X線を照射して得られる回折パターンから、化合物の同定や 結晶構造に関する情報を得ることができる分析手法です。 モノキャピラリと半導体検出器の組み合わせにより、 微小領域の構造解析や局所分析を効率的に行うことができます。 【特長】 ■化合物の同定や結晶構造に関する情報を取得 ■試料表面上の微小領域を対象とした測定が可能 ■微小領域の構造解析や局所分析を効率的に実施 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
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企業情報
●研究・開発と品質保証のパートナー ●製品の「開発・設計」から「計測・評価・生産」「品質保証・メンテナンス」までのあらゆる技術的課題を「迅速かつ的確」に解決 ●129年の歴史を誇る川崎重工グループの研究開発支援企業 ●川崎重工業技術研究所などの研究開発部門との協調による確かな技術力 ●先端技術分野への積極的取り組み
