【分析事例】X線小角散乱法によるAuナノ粒子の粒径解析
SAXS分析では粒径の統計的な分布の把握が可能！固体/液体の状態を問わずin situでの評価ができます
弊団では、X線小角散乱法によるAuナノ粒子の粒径解析を承っております。 金属ナノ粒子はバルクの金属には見られない特異な性質を示すことが 知られています。高い触媒性や表面プラズモン共鳴のような光学特性から、 燃料電池の電極触媒やバイオセンサー等に用いられています。これらの 特性を制御するためには、構造や組成等を把握する必要があります。 TEMとSAXSを相補的に用いることで信頼性の高い粒径解析を実施することが 可能です。 【測定法・加工法】 ■[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法 ■[SAXS]X線小角散乱法 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
- 企業：一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
- 価格：応相談
