コンター法による残留応力測定
測定対象物を放電加工により切断し,その際に解放される応力で生じる微小な変形を精密に測定することで切断前の残留応力を逆解析します。
測定対象物を放電加工により切断し,その際に解放される応力で生じる微小な変形を精密に測定することで切断前の残留応力を逆解析します。
- 企業:株式会社IHI検査計測
- 価格:応相談
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測定対象物を放電加工により切断し,その際に解放される応力で生じる微小な変形を精密に測定することで切断前の残留応力を逆解析します。
測定対象物を放電加工により切断し,その際に解放される応力で生じる微小な変形を精密に測定することで切断前の残留応力を逆解析します。
測定対象表面に小さな穴を段階的に穿孔していき、その際に解放されるひずみを測定し残留応力を算出します。
測定対象表面に小さな穴を段階的に穿孔していき、その際に解放されるひずみを測定し残留応力を算出します。規格ASTM E837-13a 20に準拠した信頼できる手法です。
非破壊で表面層の応力測定ができます。
非破壊で表面層の応力測定ができます。 当社では、このX線応力計測サービスを実施しています。装置は小型軽量であり、現場に持参して実機の応力を計測できます。