コンター法による残留応力測定

株式会社ＩＨＩ検査計測

測定対象物を放電加工により切断し，その際に解放される応力で生じる微小な変形を精密に測定することで切断前の残留応力を逆解析します。

測定対象物を放電加工により切断し，その際に解放される応力で生じる微小な変形を精密に測定することで切断前の残留応力を逆解析します。

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コンター法による残留応力測定

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