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抵抗測定器(co) - 企業4社の製品一覧

製品一覧

1~6 件を表示 / 全 6 件

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測定器 主回路抵抗測定器 ST102

操作部が少なく取り扱いが簡単

電力用開閉装置の主接触部の接触抵抗を測定するための装置で、電流発生器とデジタル電圧計で構成されます。 ST-102A専用デモ機はありませんが、ST-10A(10Aタイプ)デモ機で操作感をお試しいただけます。 「操作感を試してみたい」「設定が簡単にできるか確認したい」「想定している試験ができるか確かめたい」というお客様は、弊社サイトの標準品お問い合わせフォームより「デモ機 希望」とご依頼ください。 https://serizawa-sr.co.jp/contact-1

  • その他計測・記録・測定器

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測定器 主回路抵抗測定器

主回路の保守・点検に!全国約50社(発電所や変電所、重電メーカー等)で使われています!抵抗値直読・高精度・壊れない・安価!

電力用開閉装置の主接触部の接触抵抗を測定するための装置で、電流発生器とデジタル電圧計で構成されています。 ※2022年より新型ケースになりました。従来ケースと若干外観が異なります。カタログの写真と寸法を参照してください。 「操作感を試してみたい」「設定が簡単にできるか確認したい」「想定している試験ができるか確かめたい」というお客様は、弊社サイトの標準品お問い合わせフォームより「デモ機 希望」とご依頼ください。 https://serizawa-sr.co.jp/contact-1

  • 電圧計

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非接触シート抵抗測定機『DELCOM』

サンプルへの物理的損傷を与えず、幅広い測定レンジにて高精度な測定を実現!

『DELCOM』は、DC渦電流方式の非接触型シート抵抗測定システムです。 半導体/液晶基板、太陽電池セル、フレキシブル材料、各種導電性フィルム等の 研究開発・検査工程・製造ラインにおいて、サンプルへの物理的損傷を与えず、 幅広い測定レンジにて高精度な測定を実現。 測定アプリケーションは、半導体、ITO膜、グラフェン&カーボン、 容量性メタルホイール、電波吸収材料などです。 【特長】 ■DC渦電流方式の非接触型シート抵抗測定システム ■研究開発・検査工程・製造ラインにおいて、サンプルへの物理的損傷を与えない ■幅広い測定レンジにて高精度な測定を実現 ■測定レンジは抵抗範囲に応じて4つのレンジから選択可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 絶縁抵抗計

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主回路抵抗測定器

主回路抵抗測定器

電力用開閉器装置の主接触部の、接触抵抗を測定する装置です。 (1)本製品を付属ケーブルで主回路に接続し、(2)通電スイッチをON(3)ご希望の通電電流に合わせるだけの簡単操作です。 ハンディタイプのため現場への持ち込み作業が可能です。 ●通電電流は最大100Aまで可変。(調整範囲50〜105A) ●最大1.999mΩまで測定可能。 ●開放電圧DC5V ●3表示切替…抵抗、電流、電圧 ●STシリーズの最新タイプ ST-102A専用デモ機はありませんが、ST-10A(10Aタイプ)デモ機で操作感をお試しいただけます。 デモ機 あります! ご導入を検討されているお客様へデモ機の貸し出しをおこなっています。 「操作感を試してみたい」「設定が簡単にできるか確認したい」「想定している試験ができるか確かめたい」というお客様は、弊社サイトの標準品お問い合わせフォームより「デモ機 希望」とご依頼ください。 https://serizawa-sr.co.jp/contact-1

  • 電気計器・電位計(メータ)
  • その他計測・記録・測定器
  • 電圧計

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接触式 抵抗測定器『DUORES(デュオレス)』

ハンディタイプシート抵抗測定器!

『DUORES(デュオレス)』は、持ち運びも測定実施も簡単な、ハンディ タイプシート抵抗測定器です。 測定する対象に合わせ、2種のプローブ(非破壊式・接触式)を交換使用。 プローブを載せるだけ、当てるだけで自動測定いたします。 お客様の要望に応じ、様々にカスタマイズ可能です。 また、本体+非破壊式プローブのみ、本体+接触式プローブのみでも販売 しております。 【特長】 ■接触式 ■2プローブ交換使用 ■ハンディタイプ ※詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードして下さい。

  • 半導体・IC
  • その他 計測・測定機器

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非接触式シート抵抗測定機『LEI-1510シリーズ』

広い範囲で優れた測定直線性!三次元グラフィックマップとしてPCモニター上で確認可能

『LEI-1510シリーズ』は、旧リハイトン社製の非接触式シート抵抗測定機です。 ロボットを取り付ける事により、多数枚を迅速に計測処理する事が可能。 四探針方式で起こる、探針の接触汚染や接触具合による再現性の問題を 解決します。 2インチから最大8インチまでのSiウェーハ、化合物半導体(GaAs、GaN、InP等) epiウエハを非接触・破壊にてシート抵抗を測定します。 【特長】 ■探針の接触汚染や接触具合による再現性の問題を解決 ■多数枚を迅速に計測処理する事が可能 ■0.035~3200ohm/sq.という広い範囲で優れた測定直線性 ■計測データを三次元グラフィックマップとしてPCモニター上で確認可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他計測・記録・測定器
  • 半導体検査/試験装置

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