半導体検査治具『プローブカード』
最小ピッチ30μmマトリクスの実績！狭ピッチプローブ設定が可能な半導体検査治具
『プローブカード』は、半導体検査工程でLSI（半導体集積回路）製造の ウエハーテスト工程で、シリコンウエハー上に形成されたLSIチップの 電気的検査に用いる治具です。 ワイヤープローブを使用することでプローブを垂直に立てることが可能。 より自由なプローブ配置が行えます。 また、垂直に検査対象物と接触することで、従来型のカンチレバー タイプのプローブに比べ検査キズ(打痕)の大幅な改善が期待できます。 【特長】 ■垂直コンタクト ■ピン間ピッチ ■多ピン設定、多面同測 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
- 企業：株式会社コーヨーテクノス
- 価格：応相談
